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1.
SPECTRUM-PRESERVING ELEMENTARY OPERATORS ON B(X) 总被引:4,自引:0,他引:4
Hou Jinchuan 《数学年刊B辑(英文版)》1998,19(4):511-516
1.IntroductionLetXbeaninfinitedimensionalcomplexBanachspaceandB(X)theBanachalgebraofallboundedlinearoperatorsonX.ForTEB(X),a(T),asusual,willdenotethespectrumofT.Let4bealinearmapfromB(X)intoitself.4isspectrum-preservingifa(di(T))=a(T)forallTEB(X);4isspectrum-compressingifa(4(T))ga(T)forallTEB(X).Itisclearthatif4isunital(i.e.,ac(I)=I),thenacisspectrum-preserving(spectrum-compressing)ifandonlyif4preservesinvertibilityinbothdirections(preservesinvertibility),i.e.,4(T)isinvertibleifando… 相似文献
2.
人口发展过程的场论形式和分析 总被引:2,自引:0,他引:2
张明 《高校应用数学学报(A辑)》1989,4(4):525-533
本文通过定义生命线概念引出以场论方法描述人口动态发展过程。提出回溯期望寿命概念和计算方法;某年度死亡人口平均死亡年龄和期望寿命之间的数学关系式;以及生育模式和多年前出生人口之间的关系;并探讨了消除人口周期性生育高峰的控制方法。 相似文献
3.
4.
5.
6.
We have measured lifetimes of △n=0 allowed transitions in beryllium-like sulfur using beam foil spectroscopic techniques. The measured values, derived from analysis of arbitrarily normalized decay curves, are presented and compared with theoretical calculations and previous measurements. Accurate probabilities have been determined by the well-known relationship. 相似文献
7.
黄龙 《新疆大学学报(理工版)》2003,20(2):130-132
用正电子湮没寿命谱技术研究了2.4×1O15/cm2、2.2×1016/cm2注量的85MeV19F离子辐照N型GaP和1.6×1016/cm 2注量的85MeV19F离子辐照P型InP所产生的辐照缺陷.结果表明:两种注量辐照在GaP中均产生较高浓度的单空位.其浓度随着辐照注量的增大而增加;辐照也在InP中产生较高浓度的单空位. 相似文献
8.
Radiative lifetimes of two short-lived levels (i.e. 4f^8 (TF6)6p^1/2 (6, 1/2)11/2,13/2) in Tb Ⅲ are measured by time-resolved laser-induced fluorescence (LIE) technique with a two-step excitation process. Free Tb Ⅲ ions are produced in a laser-induced plasma. Lifetime values are evaluated with a deconvolution procedure of the timeresolved fluorescence signal with the temporal shape of second-step excitation pulse (about 1 ns). The lifetimes of the 4f^8 (^7F6)6p^1/2 (6, 1/2)11/2 and 4f^8(^7F6)6p^1/2 (6, 1/2)13/2 levels are determined to be 1.9 (2) and 2.0 (2)ns, respectively. 相似文献
9.
10.
以Du Pont公司的商用Teflon FEP A型薄膜为例,通过热脉冲技术、等温表面电位衰减测量和开路热刺激放电电流谱分析等实验结果,讨论了经常温和高温电晕充电后样品厚度对薄膜驻极体的沉积电荷密度、薄膜驻极体的内电场、体电导率以及电荷储存稳定性的影响.通过热脉冲技术组合电导率温度曲线的测量,研究了在不同温度条件下样品厚度对沉积电荷层的平均电荷重心移动的影响.结果表明:在充电参数一定的条件下,随着膜厚的降低,储存电荷密度上升,但电荷稳定性有所下降.因此,合理地调控薄膜厚度,可以有效地优化驻极体的电荷储存能
关键词:
厚度
驻极体
电荷储存能力
电荷稳定性 相似文献