电子元件的老化与筛选

为了保证电子元件使用的可靠性和稳定性,需要进行老化与筛选.电子元件的失效分为早期失效、正常使用期和损耗老化失效期三个阶段.除了常用的老化筛选方法之外,还可采用自然老化和简易老化方式.以场效应管功率老化系统为例研究了常用试验装置.国产电子元件需加强老化筛选这个环节.     

微电子元件制造过程中的应力分析

本文分析了一个典型的微电子元件在创造过程中残余应力的分布和演化．与以往大多数类似的分析工作的不同之处在于，我们并不是对一个已成型的结构再回过头去仅仅分析其温度历史下相应的应力状态，而是追踪了该结构成型过程的各个方面，尤其是由于工艺过程中结构几何形状的变化而引起的应力重分布．采用的方法则是控制某些材料所对应的单元在某一特定的时刻以后才起作用，这种方法对于各种制造过程的分析非常有效．     

一个有益于学生实验能力培养的综合设计性实验──暗匣子电学综合实验

本文从仪器设置、实验要求、实验过程及提示与思考诸方面具体介绍了一个深受学生欢迎的综合设计性实验──暗匣子实验。     

有效的成本管理

本文所述的案例公司如今已不存在,成为金融危机的牺牲品。 因果：业绩与成本 案例公司是一家大型跨国集团的子公司,业务是根据订单来组装电子元件。该公司的成本波动很大,员工都是按月付薪的固定员工,因此,其利润水平取决于销售额。该公司的销售由一个跨国销售团队负责,但他们常常忽略这个小规模的子公司。当陷入经济衰退时,集团决定将其部分生产转移到欧洲去,剩下的生产外包出去以降低固定成本。     

可变形电子元件的非线性动力屈曲行为分析

基于薄膜/基底模型,分析可变形电子元件结构的动力屈曲问题。用小变形平面应变理论描述基 底,用Kirchhoff平板理论描述薄膜。定义Lagrange函数,包括薄膜应变能和动能,以及基底对薄膜所作的 功。利用Euler-Lagrange方程导出薄膜的动力屈曲控制方程。计算线性荷载下薄膜的动力响应,并利用B-R 准则确定临界屈曲荷载。动力屈曲的临界荷载较静力屈曲的大,波幅响应围绕静力屈曲的响应振荡。     

元件失效数据

〔译者的话〕：电子设备的可靠性在很大程度上取决于元件的质量．原译文较全面地介绍了元件失效类型、影响失效的因素、失效率评估方法、环境试验等质量管理和数据分析内容，由于篇幅所限，对译文进行了裁剪、编辑，难免有不妥或疑义之处，敬请读者查阅原文予以指正．     

电容器的种类及特性

电容器是一种储能元件，是电子设备中常用的电子元件．电子技术中常用电容器来产生电磁振荡，改变波形、滤波、耦合等．电容器充电后储藏有电能，放电时强大的电流和火花可用来熔焊金属．大型的电力电容器还能用来提高电力设备的效率．     

微电子元件制造过程中的应力分析

本文分析了一个典型的微电子元件在制造过程中残余应力的分布和演化。与以往大多数类似的分析工作的不同之处在于，我们并不是对一个已成型的结构再回过头去仅仅分析其温度历史下相应的应力状态，而是追踪了该结构成型过程的各个方面，尤其是由于工艺过程中结构几何形状的变化而引起的应力重分布。采用的方法则是控制某些材料所对应的单元在某一特写的时刻以后才起作用，这种方法对于各种制造过程的分析非常有效。     

融入凝聚态世界的时间晶体

<正>普通晶体破缺了空间平移对称性,而时间晶体则破缺了时间平移对称性。探索四维时空中晶体行为是一个崭新的研究方向,将会带来创新性的凝聚态器件和应用。在计算机芯片或是超导器件的内部,无数的电子在排列成晶格的离子间穿梭而过。这样的景象会不会在时间而不是空间中周而复始呢?传统的凝聚态器件或是电子元件会不会有四维时空中的新奇应用呢?麻省理工学院的诺贝尔物理学奖得主维尔切克(Frank Wilczek)在2012年题为《量子时间晶体》的开创性工作中提出了一个问题:时间平移对称性,也就是说不同时刻的     

一道高考试题的经典解释和演绎过程披露

大纲全国数学卷Ⅱ(理科)第20题是涉及到电子元件为背景的离散变量分布列问题,试题采用了具体、明确的"电流能通过"的用语,在同国家考试中心的专家沟通过程中,笔者了解到命题专家对语言选择也颇费心事,是在比较了"电子元件正常工作率"、"电子元件完好率"等各种用语之后,能准确刻画电子元件的性能,最终选择了"电流能通过"的用语,一个元件电流能通过是指"如果电流到达该元件,则能顺利通过",是该元件具备的性能,并不意味电流一定到达了它,就像我们通常说"某人能当领导"是指"如果让该人当领导,则他有能力去当领导",并不意味他当了领导.因此,电流"到达"某元件与"能通过"某元件是不同意义的.现将本题解答作一些经典解释,并披露一些本题的演绎过程.