随机删失下乘积限过程和累积失效率过程振动模的局部渐近性

在随机删失下研究了乘积限过程和累积失效率过程的振动模的局部性质 .给出了这两个过程的振动模的重对数律 ,并应用这些结果得到了几种核密度估计和Bahadur-Kiefer过程的精确收敛速度     

栅氧化层经时击穿的非平衡统计理论分析方法

栅氧化层的经时击穿作为影响互补型金属-氧化物-半导体集成电路可靠性的一个重要因素,一直是国内外学者研究的重点.为了对其进一步研究,首先从栅氧化层在电应力下经时击穿的微观机理出发,基于栅氧化层中电子陷阱密度累积达到临界值时发生击穿的原理和电子陷阱生成过程的随机性,提出了栅氧化层经时击穿的非平衡统计理论分析方法,然后分别给出了恒定电流应力和恒定电压应力下电子陷阱生成速率方程,导出了电子陷阱密度的概率密度分布函数.最后以具体器件为例进行分析,得到了栅氧化层的最概然寿命随电流应力、电压应力及其厚度的变化规律,并类比固体断裂现象中"疲劳极限"的概念定义"击穿极限"概念.计算出了累积失效率随电流应力、电压应力和时间的变化规律,引入特征值来描述累积失效率达到0.63所用的时间.结果表明:电子陷阱密度的概率密度分布函数满足对数正态分布,且理论结果与实验结果相符.     

删失截断情形下失效率变点模型的Bayes参数估计

通过添加部分缺失寿命变量数据,得到了删失截断情形下失效率变点模型相对简单的似然函数.讨论了所添加缺失数据变量的概率分布和随机抽样方法.利用Monte Carlo EM算法对未知参数进行了迭代.结合Metropolis-Hastings算法对参数的满条件分布进行了Gibbs抽样,基于Gibbs样本对参数进行估计,详细介绍了MCMC方法的实施步骤.随机模拟试验的结果表明各参数Bayes估计的精度较高.     

关于一种新模型对软件总体可靠度的估计

本文在对文[4]中软件可靠度的估计进行研究的基础上,提出了软件总体可靠性的一个新模型,对软件总体的可靠度进行了讨论,利用点估计方法,得到软件可靠度的点估计值,证明了软件总体失效率λ估计解的唯一性,并对缺陷数进行了估计,从而给出了新模型下软体总体可靠性的估计.     

参数的E Bayes估计法及其应用

提出了参数的一种估计方法—— E Bayes估计法 ,对寿命服从指数分布的产品 ,在失效率的先验分布为 Gamma分布时 ,给出了失效率的 E Bayes估计和多层 Bayes估计 ,并在此基础上给出了失效率和可靠度的 E Bayes估计的性质 .结合实际问题进行了计算 ,结果表明提出的 E Bayes估计法可行且便于应用 .     

记录值中的随机序与年龄性质

研究记录值中的随机序与年龄性质．证明了任何通过两个分布函数的行为所定义的随机序,均可以被它们相应的记录值所保持,而两个随机变量之间的剩余财富序,可以导致其相应记录值序列的平均连续增量的序关系．也讨论了K-记录值的连续增量的年龄性质．     

无失效数据的Bayes和多层Bayes分析

本文推广了文献[6]的结果，对指数分布无失效数据的失效率，给出了Bayes估计、Bayes置信上限以及多层Bayes估计，从而可以得到无失效数据可靠度的估计，最后，结合实际问题进行了计算。     

失效率的非参数核估计及其收敛速度

本文讨论失效率的一类非参数核估计并在一定条件下给出了估计的一致强收敛速度。一批产品的寿命服从假定: 在年龄t时存活(未失效)的一个个体将死于(失效在)区间(t,t+△t)(△t≥0)的概率为λ(t)·△t+o(△t),把λ(t)称为失效率。并且假定个体在时刻t=0时未失效。把个体在时刻t或t以前失效的概率记为F(t)=P{T≤t},记f(t)=F＇(t),则由文知     

无失效数据失效率的综合多层Bayes估计

文章对指数分布无失效数据的失效率,在先验分布为Ｇａｍｍａ分布时,在引进失效信息后,给出了多层Ｂａｙｅｓ估计以及综合多层Ｂａｙｅｓ估计,并给出了可靠度的综合估计。最后,结合实际问题进行了计算     

NA样本概率密度函数核估计的相合性

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