“拐点法”测普朗克常量误差大的应对方法

由光电效应试验中得到的伏安特性曲线,用粗略简易的"拐点法"可以很快计算出普朗克常量,但计算出的数值误差比较大,针对误差较大,通过多次的取值分析计算,最后得出可以尽可能减小误差的"拐点"的确定。     

参数曲线的全局凸性判别条件

基于平面曲线的二次微商,导出了二重点的判别条件,结合参数曲线的局部凸性条件,得到了参数闭曲线的充要条件。给出了参数曲线的拐点判别条件,从而得到了参数曲线局部凸的充要条件。     

一种判断多项式函数极值点和拐点个数的简单方法

给出了判断一类多项式函数极值点和拐点个数的一种快捷方法,得到了几个相关结论,并通．过几个典型例题验证了该方法解题的有效性和快捷性．     

探头在准二维颗粒介质中慢速运行的受阻实验研究

测量了圆锥探头缓慢压入准二维颗粒介质过程中所受阻力随深度的变化,发现阻力曲线在不同区域呈现不同的增长规律,曲线全过程存在两次增长规律的转变.本实验条件下观测到的现象表明:当填充颗粒总高度较高时,阻力曲线存在两个拐点,前部拐点是由颗粒回填所致,拐点深度约65mm(与探头尺寸有关),且不随颗粒填充高度变化,后部拐点是由于底部边界影响所致;后部拐点出现的深度Z2随着颗粒填充高度Zmax的增加线性增加,容器底部边界开始影响探头受力时探头距离底部的距离H也会随着颗粒填充高度Zmax的增加而增加,Z2-Zmax和H-Zmax关系拟合直线的斜率均约为0.5.     

平面三次H-Bézier曲线的形状分析

本文对平面三次H-Bézier曲线的形状进行分析,讨论其诸如奇点、拐点、局部凸和全局凸的几何特征,得出曲线上含有奇点、拐点和曲线为局部凸或全局凸的用控制多边形边向量相对位置表示的充分必要条件.     

用Hough变换的方法提取图像拐点

拐点特征是模式识别中经常用到的一类不变量．本文利用Ｈｏｕｇｈ变换找出图像轮廓中的直线段，确定其直线方程，将相邻两直线段延长相交得到的交点定义为拐点．由于Ｈｏｕｇｈ变换是统计平均的结果，所以求得的拐点较为稳固，抗噪声性能较好．文中也给出了拐点的具体算法．     

平面C-B样条的奇拐点分析

平面C-B样条曲线是三次均匀B样条的推广.通过移动C-B样条曲线段的一个控制点而固定其余三个控制点的方法,讨论了在曲线上形成零曲率点的移动控制点的轨迹,得到了C-B样条曲线段的尖点判别曲线、拐点判别区域,同时也给出了在曲线段上生成重结点的移动控制点的轨迹区域.