全文获取类型
收费全文 | 5004篇 |
免费 | 677篇 |
国内免费 | 608篇 |
专业分类
化学 | 406篇 |
晶体学 | 57篇 |
力学 | 3557篇 |
综合类 | 133篇 |
数学 | 791篇 |
物理学 | 1345篇 |
出版年
2024年 | 41篇 |
2023年 | 189篇 |
2022年 | 214篇 |
2021年 | 186篇 |
2020年 | 182篇 |
2019年 | 137篇 |
2018年 | 96篇 |
2017年 | 168篇 |
2016年 | 168篇 |
2015年 | 183篇 |
2014年 | 268篇 |
2013年 | 216篇 |
2012年 | 181篇 |
2011年 | 230篇 |
2010年 | 268篇 |
2009年 | 263篇 |
2008年 | 299篇 |
2007年 | 238篇 |
2006年 | 291篇 |
2005年 | 224篇 |
2004年 | 258篇 |
2003年 | 204篇 |
2002年 | 163篇 |
2001年 | 182篇 |
2000年 | 152篇 |
1999年 | 130篇 |
1998年 | 114篇 |
1997年 | 110篇 |
1996年 | 123篇 |
1995年 | 138篇 |
1994年 | 103篇 |
1993年 | 90篇 |
1992年 | 99篇 |
1991年 | 110篇 |
1990年 | 100篇 |
1989年 | 83篇 |
1988年 | 36篇 |
1987年 | 35篇 |
1986年 | 8篇 |
1985年 | 3篇 |
1983年 | 2篇 |
1979年 | 2篇 |
1959年 | 1篇 |
1951年 | 1篇 |
排序方式: 共有6289条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
2.
3.
本文采用脉冲激光沉积方法在LaAlO3(001)单晶衬底上制备了反钙钛矿GaCMn3薄膜,通过控制制备过程中脉冲激光的能量,研究了不同激光能量条件对GaCMn3薄膜结构与物理性能的影响.分别利用X射线衍射仪、原子力显微镜、超导量子干涉仪和物理性能测试系统,对所制备的薄膜的晶体结构、表面形貌和磁性、电输运性质进行了研究.结果表明,制备的样品均为具有多个晶面取向的反钙钛矿薄膜,且薄膜结构和物性明显随制备激光能量的变化而变化.当激光能量为450mJ时,制备的薄膜多晶面取向性最弱,结晶性和表面形貌最优良.实验所得的薄膜均表现出顺磁-铁磁-反铁磁相转变,然而转变过程比块材较平缓,同时薄膜的电阻率并未表现出块材中的突变特征,我们推测该现象很可能是由衬底的应力及衬底的晶格膨胀对薄膜反常晶格变化的抑制作用造成的. 相似文献
4.
文[1]提出了两个DEA的逆问题,并用搜索法来解.而本文根据所证的定理,对每个问题一般只要解二、三个线性规划问题就能得到答案. 相似文献
5.
本文运用有限元方法结合动态光弹性分析,对动态应力强度因子的计算进行了分析研究.作者在钱伟长教授[1]的基础上,将动态裂尖的奇异性分析解引入有限元计算;并以动态光弹性分析所得的裂纹扩展长度与时间的关系曲线作为定解补充条件,据此建立了有效模拟裂纹扩展的数值模型.通过具体算例证明,本文的方法取得了与实验结果相吻合的效果. 相似文献
6.
硅橡胶在贮存和使用过程中,常受到不同应力应变的作用,在其使用和贮存期间会产生一系列物理老化和松弛,导致其内部结构发生变化,从而引起各种性能尤其是力学性能的下降,当性能下降到一定程度时,吉卜赛材料允许使用极限,它就失去了使用价值,因此有必要对硅橡胶的库存和老化进行研究。 相似文献
7.
用相位调制方法测量光盘盘基应力双折射的精度分析 总被引:4,自引:2,他引:2
偏振相位调制方法是测量微小双折射的一种高精度检测方法。本文系统全面地分析了以PMCSA结构形式测量光盘盘基应力双折射的相位调制方法中,由各种误差源造成的对测试结果的影响。 相似文献
8.
介绍以物理单元结构“自学—质疑—讨论—小结”式的教学模式的实施过程,并对其优越性及缺点都予以分析并提出改进方案。 相似文献
9.
PANYondong QIANMenglu XUWeijiang M.OURAK 《声学学报:英文版》2004,23(1):11-16
A residual-stress profile along the thickness of an aluminum alloy sheet is determined by laser-ultrasonic technique. Surface acoustic waves are generated by a Nd:YAG pulse laser and detected by a Heterodyne interferometer on a lateral free surface of the sheet. The distribution of residual stress is determined by measuring the relative variation of the wavevelocities at different location of the sample along its thickness. This technique is validated by three different residual stress profiles obtained experimentally. 相似文献
10.