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1.
锰结核中硅,铝,铁,镁,磷,钾,锰,钛的XRFA   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文叙述了用XRF分析锰结核中Si、Al、Fe、Mg、P、K、Mn和Ti的方法。按照通常锰结核的主次成分制备6个人工合成标准,根据Sherman方程计算了已知成分(二元系统)的相对强度。用L-T方求得了互致元素校正的理论α系数(基本的、混合的、修正的),用DATAFLEX151B计算机以BASIC语言汇了“PRA,APU”计算机程序。然后进行非线性回归分析了锰结核样品得到了满意的结果。  相似文献   
2.
建立了一种人工神经网络-X射线荧光光谱法测定钢中酸溶铝的方法,用X射线荧光光谱法测定低合金钢中总铝值,应用所建立的ANN-BP网络模型,输入总铝含量直接预测出酸溶铝含量。同时使用改进的BP算法,避免了神经网络学习中可能产生的麻痹现象。该方法用于钢中酸溶铝的测定,结果满意。  相似文献   
3.
提出了煤粉直接压片制样-X射线荧光光谱法测定原煤中氯量。将粒径小于74μm的原煤粉末经90℃烘干后置于聚乙烯模具中,以4.16 MPa压力制成直径为35 mm的样片,制成的样品保存于干燥器中应尽快进行测定。选用煤标准物质制作氯的测定范围为0.01%~0.11%(质量分数)之间的标准曲线,并建立了集校准曲线、基体校正及谱线重叠校正为一体的回归方程作为方法的定量基础。求得方法的检出限为15μg·g~(-1)。用同一标准物质(ω_(Cl)0.057%)重复测定12次,测得其相对标准偏差为1.85%。用所提出的方法测定了2个煤标准物质,所得结果与认定值一致。  相似文献   
4.
不同种属黄芩中微量元素的X荧光光谱测定   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文采用直接粉末压片X荧光光谱法测定了中草药黄中二十个主,微量无机离子的含量。探讨了用无机离子鉴别不同种黄芩的可能性。  相似文献   
5.
介绍了用瑞士ARL公司生产的ARL9800X射线光谱仪中配置的X射线衍射(XRD)通道测定烧结矿中氧化亚铁含量,该方法简便,快速,准确,当浓度为10.56%时,相对标准偏差为0.28%。  相似文献   
6.
X荧光玻璃熔片法分析铁矿石   总被引:2,自引:0,他引:2  
使用无水四硼酸锂作为溶剂,在1050℃熔融制样,以X荧光光谱法测定铁矿石中铁、硅、铝、钙、镁、锰、钛、磷、硫等元素,其分析结果的精密度和准确度可与化学法相比。  相似文献   
7.
镁铝铬质耐火材料的X射线荧光光谱分析   总被引:3,自引:0,他引:3  
XRFS法应用于Mg-Al-Cr耐火材料中10元素(包括主成分及微量组分)的同时测定。对分解试样的熔剂作了系统研究,发现以1:1混合的四硼酸锂和偏硼酸锂具有最佳熔融效果,所得熔块光滑透明而均匀。选定的熔融温度和时间为1150℃和15min。试样和熔剂的质量比以1:8为好,所得试样在熔剂中的分散度(浓度)适当,可同时适合试样中高、低含量组分的测定,采用熔融法分解试样的方法有效地消除了试样的粒度效应。对仪器工作条件(包括X-光管的电流及电压、分光晶体的选用等)进行了试验并选定最佳条件,使各元素测定所要求的灵敏度和准确度得到满足。此外,采用理论α系数校正法克服了基体吸收及增强效应。用4个标准样品按所提出的方法进行分析,以考核方法的精密度和准确度。10元素的测定结果与其标准值完全相符。  相似文献   
8.
将样品在玛瑙研钵中与淀粉混合研磨,然后倒入压样机钢环模具中,在30 t压力下,采用粉末压片制样法压制成型。用X射线荧光光谱法测定锶铁氧体半成品中铁、锶、硅的含量。经试验验证压片时样品与黏合剂淀粉的最佳质量比为5比1。此法用于锶铁氧体半成品样品分析,3种元素的相对标准偏差(n=11)分别为0.06%,0.14%,0.70%,测定值与常规方法测定值相一致。  相似文献   
9.
应用基本参数(FP)法虚拟合成标样制作了X射线荧光光谱法(XRFS)测定不同类型的镍基高温合金中18种合金元素和4种杂质元素的通用工作曲线。选择了最佳的仪器工作条件和合理的待测元素的分析线系,测定了9种元素受共存元素分析线重叠干扰的校正系数,用瑞利散射线扣除背景及通道材料的影响。在设定虚拟合成标样中各元素的含量,并算得在此设定值下的荧光强度后,用FP法计算各元素在其定值下的最终强度,从而完成了FP法工作曲线。应用此虚拟合成单标工作曲线对多种标准样品进行测定,证明该工作曲线可通用于各种类型的镍基高温合金的分析。  相似文献   
10.
钢中残量元素As,Sn,Sb的X射线荧光光谱分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
朱见英  沈炜 《光谱实验室》1993,10(5):50-51,28
本文介绍了用日本理学3530XRF光谱仪扫描道测定钢中痕量元素As、Sn、Sb。由于短波强大的背景破坏了检测线的线性,通过用DATAFLEX 181B背景扣除的数据处理,消除了这些影响,成功地校准了曲线。方法简单;快速;XRFS结果与化学分析一致,该法已用于炼钢的过程控制和原材料分析。  相似文献   
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