首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   11篇
  免费   0篇
化学   6篇
物理学   5篇
  2015年   1篇
  2014年   1篇
  2004年   1篇
  2001年   1篇
  2000年   1篇
  1999年   1篇
  1995年   1篇
  1994年   3篇
  1993年   1篇
排序方式: 共有11条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
Selected prominent problems in the analysis of advanced ceramic materials are surveyed. The importance of reliability of results is discussed in the field of elemental trace- and microanalysis in view of its interaction with economy, power of detection, local resolution and speciation selectivity. Particular problems in the analysis of major constituents, trace components and microlocal distributions are based on the striking propertics of ceramics; they are exemplified. Analytical assistance must start from the beginning of the production processing, in the preparation of the powdered base materials. Determination of the stoichiometry requires high accuracy and differentiation of chemical species in bulk and surface analysis of ceramic base powders. Element trace determination by direct instrumental methods requires standard reference materials for calibration; these are currently inavailable in a sufficient variety. For optimum reliability and power of detection, element traces must be prepared in isolated form in a small excitation volume for analysis. A review on the state-of-the-art of wet-chemical combined procedures is presented. Decomposition position procedures are emphasized, due to their risk of contributing severe systematic error. Combustion in elementary fluorine is presented for decomposition of refractory materials. The performance of some direct procedures is discussed. Very efficient methods are available for element trace determinations in ceramic materials, offering high detection power. Several approaches for high-resolution local microanalysis in non-conductive ceramic materials are identified as the most promising development in the analysis of sintered compact ceramic products and devices.  相似文献   
2.
采用粉末压片法制样,使用ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱仪,对土壤样品中与生命健康和环境污染有直接影响的重金属元素Cu、Pb、Zn、As、Sb、Co、Cr、Ni进行同时测定.选用土壤国家标准物质、以国家标准物质为基体自制校准物质绘制标准曲线,解决了相关标准不足的问题,拓宽了元素测定范围(10~20 000μg/g),重点探讨了As、Sb的测量条件.虽然As、Sb的检出限和准确测定下限较高,但对于土壤质量的评价有重要的参考意义.方法快速、简便、准确.  相似文献   
3.
提出了以熔融制样法,用PW1404X射线荧光光谱仪测定铜精矿中Cu、Fe、S、Pb、Zn、As、Bi、Mo,探讨了铜精矿的预氧化条件,熔融条件和玻璃化试剂地制样的影响。  相似文献   
4.
离子膜富集—XRFA法测定Cr(Ⅲ)和Cr(Ⅵ)   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文利用离子交换膜富集和分离Cr(Ⅲ)与Cr(Ⅵ),并用XRFA测定。  相似文献   
5.
X射线荧光光谱分析痕量稀土元素检出限的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文是在原有工作基础上,对低量稀土元素的XRFA方法,提高灵敏度,降低检出限,作了系统论述。主要以降低背景,提高峰背比,以及提高稳定性等方面进行了研究。  相似文献   
6.
化学富集XRFA法测定岩石、土壤中稀有和稀土元素   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究了化学富集XRFA法测定岩石、土壤中Nb,Ta,Zr,Hf,Ti,RE等微量元素的方法。化学富集采用共沉淀与离子交换结合。富集后得到的稀有和稀土元素用薄样-X荧光光谱法测定。制订了一个用明胶做分散剂制薄样的方法。稀有与稀土元素的检出限达0.06~0.8μg/ml。精密度与准确度符合地球化学样品分析要求。  相似文献   
7.
介绍了用于X射线荧光光谱分析(XRFA)的聚脂薄膜-滤纸试样制备改进方法及其效果实验。改进方法制备的试样具有基体效应小、样品用量少、元素分布均匀、试样反复使用不变形和便于保存等优点,特别适用于轻元素测量的试样制备。  相似文献   
8.
X荧光光谱法分析LF-VD精炼炉炉渣   总被引:4,自引:0,他引:4  
采用X荧光光谱仪分析LF-VD精炼炉炉渣中TFe,CaO,MgO,Al2O3,SiO2,TiO2,MnO,P2O5等8个组分。因精炼炉渣中氧化钙含量高,我们选用了12个国家级、部级炉渣标准样品,再添加光谱纯试剂配制了数点合成标样,适应氧化钙、三氧化二铝、二氧化硅含量范围跨度较大的样品分析,同时使得分析曲线点分布均匀。用四硼酸锂作熔剂,高温熔融制样。进行了脱模剂、熔融温度及稀释比等制样条件的选择试验。采用PH模式、理论α系数校正基体的吸收增强效应,进行了方法的精密度及准确度试验。与化学法对照,各组份的定量分析结果令人满意。方法准确、快速、简便。  相似文献   
9.
本文拟定了一个X射线荧光光谱薄膜测定常见铅、锌、铜、锰矿中0.2~xx%Pb、Zn、Cu、Fe、Mn的方法。实验考察了制片重现性和样品分解可靠性对本法结果的关键性影响,采用酸溶、钒作内标、Mylar膜制片测量。手续简便、方法精密度和准确性符合有色地质分析质量要求。  相似文献   
10.
采用一种新的X射线荧光UNIQUANT软件分析方法,分析了土壤标准物质和未知样品,土壤标准物质的分析结果与标准值较吻合,除氧化钠和氧化镁的相对偏差较高外,其余氧化物的相对偏差在0~10%之间。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号