全文获取类型
收费全文 | 7871篇 |
免费 | 2002篇 |
国内免费 | 5082篇 |
专业分类
化学 | 9308篇 |
晶体学 | 635篇 |
力学 | 296篇 |
综合类 | 200篇 |
数学 | 616篇 |
物理学 | 3900篇 |
出版年
2024年 | 73篇 |
2023年 | 265篇 |
2022年 | 294篇 |
2021年 | 333篇 |
2020年 | 307篇 |
2019年 | 350篇 |
2018年 | 266篇 |
2017年 | 322篇 |
2016年 | 383篇 |
2015年 | 441篇 |
2014年 | 443篇 |
2013年 | 780篇 |
2012年 | 634篇 |
2011年 | 649篇 |
2010年 | 574篇 |
2009年 | 593篇 |
2008年 | 709篇 |
2007年 | 735篇 |
2006年 | 796篇 |
2005年 | 766篇 |
2004年 | 778篇 |
2003年 | 745篇 |
2002年 | 583篇 |
2001年 | 529篇 |
2000年 | 349篇 |
1999年 | 317篇 |
1998年 | 298篇 |
1997年 | 182篇 |
1996年 | 198篇 |
1995年 | 186篇 |
1994年 | 207篇 |
1993年 | 144篇 |
1992年 | 174篇 |
1991年 | 171篇 |
1990年 | 117篇 |
1989年 | 122篇 |
1988年 | 48篇 |
1987年 | 23篇 |
1986年 | 26篇 |
1985年 | 21篇 |
1984年 | 14篇 |
1983年 | 9篇 |
1982年 | 1篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
2.
3.
双掺(Tm3+,Tb3+)LiYF4激光器1.5 μm波长激光阈值分析 总被引:1,自引:0,他引:1
由速率方程推出了双掺(Tm^3 ,Tb^3 )离子准四能级系统的激光阈值解析式,讨论了Tm^3 和Tb^3 离子之间的相互作用。分析了1.5μm波长附近的激光阈值和Tm^3 、Tb^3 离子的掺杂原子数分数及晶体长度的关系。结果表明,对于对应Tm^3 离子^3H4→^3F4跃迁的约1.5μm波长的激光,激活离子Tm^3 的掺杂原子数分数过大时,交叉弛豫作用将使系统阈值迅速增加。Tb^3 离子的加入,一方面能抽空激光下能级,起到降低阈值的作用;另一方面亦减少了激光上能级的寿命,使阈值升高。故Tb^3 离子有最佳掺杂原子数分数。对于Tm原子数分数为y=0.01的Tm:LiYF4晶体,Tb^3 离子的最佳掺杂原子数分数为0.002左右,同时表明,激光阈值与晶体长度有关。最佳晶体长度与Tm^3 、Tb^3 离子的掺杂原子数分数以及晶体的衍射损耗和吸收损耗有关。 相似文献
4.
用共沉淀法制备了Y2O2S∶Eu3 ,Mg2 ,Ti4 红色长余辉材料。测量了材料的电子显微形貌、晶体结构和发射光谱。通过与固相法制备的Y2O2S∶Eu3 ,Mg2 ,Ti4 长余辉材料比较,发现两种方法都可以制备粒度基本相同的纯相Y2O2S基质晶体,但共沉淀法样品的颗粒结构更松散。研究了Eu3 浓度对两种方法制备样品的谱线发射强度的影响,通过比较共沉淀法和高温固相法制备的样品中Eu3 的5D1→7F3较高能级跃迁的587.6 nm谱线强度随Eu3 浓度的变化,发现共沉淀法更有利于Eu3 均匀进入Y2O2S基质晶格而形成有效的发光中心。 相似文献
5.
6.
对区间[0,1]上的任一个连续函数f及任m,n≥1,以N(n,f)表示f中的n-周期轨道的数目,令:f是[0,1]上的连续函数且N(m,f)≥1。著名的sarkovskii定理所断言的是:当时N(n,m)≥1。本文则进一步对所有的正整数m及n求出了N(n,m)的准确值的便于计算的分析表达式。 相似文献
7.
应用双中心的原子轨道强耦合方法研究了He^2+-He碰撞中的电荷转移过程,计算了随入射离子能量变化的单电子俘获总截面及各个次壳层的态选择截面,并与其它理论结果和实验结果进行了比较,发现我们的理论结果与实验很好的符合.针对中国科学院近代物理研究所最近的实验测量,我们也计算了电荷转移过程的微分截面. 相似文献
8.
9.
对射频反应性溅射Cd-In合金靶制备的透明导电CdIn2O4薄膜,研究了基片温度及沉积后在氩气流中退火对薄膜的透射、反射和吸收光谱,光学常数和载流子浓度的影响。结果表明:提高基片温度减少了薄膜的载流子浓度,退火增加了薄膜的载流子浓度。随着基片温度提高,薄膜折射率n和消光系数κ的短波峰将逐渐蓝移,而退火使其出现红移。基片温度和退火对薄膜光学常数的影响与其对薄膜载流子浓度的影响是一致的。在制备CdIn2O4这样一种对于沉积方法和沉积条件极为敏感的透明导电薄膜的沉积过程中,这一现象对于实时监控具有极为重要的意义。 相似文献
10.