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1.
2.
本文应用辉光放电发射光谱分析技术,以纯金属作标样,对几种用不同工艺处理的镀锌铁板钝化防护层进行逐层定量分析。得到了镀锌板中锌、铁的含量随浓度变化的曲线,取得了满意的分析结果,为铁板镀锌钝化防护层的工艺研究提供了可靠的依据。 相似文献
3.
4.
载波钝化和钼酸盐后处理对不锈钢钝化膜性能的影响 总被引:1,自引:1,他引:1
一般认为交流电对金属的腐蚀过程具有加速作用,但我们发现,在直流电位基础上叠加适当波形、幅值和频率的交流电对不锈钢进行载波钝化,尔后再进行适当后处理可使钝化膜的稳定性提高,我们曾就不经后处理的载波钝化过程进行过探讨,本文着重探讨钼酸盐后处理对载波钝化膜表面状态和化学稳定性改善的作用机理。 相似文献
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6.
研究了Pd部分替代Mg对Mg0.9-xTi0.1PdxNi(x=0.04~0.1)贮氢合金腐蚀性能的影响.利用机械合金化方法制备了Mg0.9-xTi0.1PdxNi(x=0.04~0.1)贮氢合金.XRD和TEM分析表明经120 h球磨后该合金完全非晶化.循环充放电测试结果表明,Pd的替代有效地延长了Mg0.9-xTi0.1PdxNi(x=0.04~0.1)合金的循环寿命.采用开路电位测量,阳极极化,电化学阻抗和X射线光电子能谱研究了该合金的腐蚀行为.结果表明,随着Pd含量增加,合金腐蚀电位正移,初始腐蚀电流下降,腐蚀电流增加的速度变缓.采用本文提出的等效电路模型较好地拟合了合金的电化学阻抗谱.分析表明,随着Pd含量的增加,合金表面钝化膜厚度和电阻逐渐增大.X射线光电子能谱分析表明,Pd的加入减弱了合金在充放电过程中的氧化程度.当Pd含量达到0.1时,Mg0.9-xTi0.1PdxNi(x=0.04~0.1)合金的耐腐蚀性能最好,其放电容量保持率最高. 相似文献
7.
用恒电位电流衰减法及激光扫描光电化学显微技术研究了在于PH=12.5及13.8的模拟混凝土孔溶液中钢筋钝化化膜的生长动力学及相应的破坏过程,实验结果表明,钢筋钝化膜的生长过程存在两个主要阶段,各阶段膜厚均与生长时间存在正比对数关系,但当t<30秒和t>30秒时,膜的生长表出出不同的动力学特征,在钝化发生点蚀前,钝化膜的微区光电流一定的预兆,腐蚀抑制剂NaNO2影响膜的生长过程及膜厚,能提高钢筋的抗 相似文献
8.
采用线性扫描伏安法研究了Lewis 酸性AlCl3-BMIC (BMIC: 1-butyl-3-methylimidazolium chloride)离子液体中铝电极的溶解. 铝电极在阳极极化时出现了钝化现象, 钝化是由于在铝电极表面形成了固体AlCl3钝化膜造成的. 铝的电化学溶解过程可以依次分为三个区: 电化学控制区、过渡区和钝化区. 在电化学控制区, 铝的电化学溶解速率随着电位的正移而逐渐增加; 在过渡区, 由于电极表面AlCl4-和Al2Cl7-浓度发生改变而析出固体AlCl3使得铝电化学溶解速率随着电位的正移而逐渐减小; 当钝化膜形成之后, 铝的电化学溶解速率不再随着电位的正移而发生改变, 铝溶解进入钝化区. 增加搅拌、升高温度、降低离子液体AlCl3摩尔分数都可以增加铝溶解阳极极限电流密度. 相似文献
9.
800合金作为核电站蒸汽发生器的一种关键材料,服役环境下其表面钝化膜的特性一直是人们研究的热点.本文用Mott-Schottky方法研究了800合金在不同硫酸根离子和氯离子浓度比的溶液中钝化膜的半导体特性,并结合电化学阻抗谱(EIS)、扫描电镜(SEM)、扫描电化学显微镜(SECM)研究了钝化膜的耐蚀性和表面活性.Mott-Schottky结果表明,800合金表面钝化膜的半导体特性与溶液中硫酸根、氯离子的浓度比有关,随硫酸根与氯离子浓度比的降低,半导体特性发生转变.当硫酸根与氯离子的浓度比较高时,钝化膜为p型半导体;而当硫酸根与氯离子的浓度比较低时,钝化膜为n型半导体.EIS、SECM、SEM结果表明,随浓度比的降低钝化膜由过钝化溶解转为明显的点蚀特征,钝化膜表面活性增加.钝化膜特性的改变与其半导体类型的转变密切相关,而半导体特性的转变由氯离子、硫酸根离子在800合金钝化膜表面的竞争吸附所致,其在表面的竞争吸附直接影响钝化膜表面发生的化学反应,改变电极/溶液界面电势差,使钝化膜中的空位类型改变,最终决定半导体类型. 相似文献
10.
晶体硅表面钝化是高效率晶体硅太阳能电池的核心技术,直接影响晶体硅器件的性能。本文采用第一性原理方法研究了一种超强酸-双三氟甲基磺酰亚胺(TFSI)钝化晶体硅(001)表面。研究发现,TFSI的四氧原子结构能够与Si(001)表面Si原子有效成键,吸附能达到-5.124 eV。电子局域函数研究表明,TFSI的O原子与晶体硅表面的Si的成键类型为金属键。由态密度和电荷差分密度分析可知,Si表面原子的电子向TFSI转移,从而有效降低了Si表面的电子复合中心,有利于提高晶体硅的少子寿命。Bader电荷显示,伴随着TFSI钝化晶体硅表面的Si原子,表面Si原子电荷电量减少,而TFSI中的O原子和S原子电荷电量相应增加,进一步证明了TFSI钝化Si表面后的电子转移。该工作为第一性原理方法预测有机强酸钝化晶体硅表面的钝化效果提供了数据支撑。 相似文献