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1.
2.
固体力学有限元体系的结构拓扑变化理论 总被引:2,自引:1,他引:1
本文是文[1]的继续.文[1]提出了杆件系统的结构拓扑变化理论和拓扑变化法本文将这一理论和方法推进到连续体有限元体系;且在此基础上揭示出有限元体系的一个新性质,称为基本位移之梯度的正交性定理,从而给出一套设计敏度的显式表达式,可直接用于计算. 相似文献
3.
4.
5.
利用机械合金化制备纳米Zr-V粉末,对制备过程的材料进行物相分析和热分析试验。初始粉末Zr(150μm)和V(150μm)元素粉末(纯度99.15%)按原子比1:2或1:1进行混合后在氩气气氛中放入SimoloyerCMol—2球磨仓中,按几种不同的试验条件进行球磨。同时在997K和1047K下热处理40min和1h,并对热处理前后的粉末进行了物相和TG-DSC实验分析。 相似文献
6.
在二极管泵浦固体激光器耦合光学系统中,柱面透镜起着非常重要的作用。随着系统轻量化、小型化的要求需要用重量轻、尺寸小的光学器件来替代。本文介绍一种用于替代柱面透镜的二元光学元件的设计和制作方法。 相似文献
7.
A novel super-hydrophobic stearic acid (STA) film with a water contact angle of 166o was prepared by chemical adsorption on aluminum wafer coated with polyethyleneimine (PEI) film. The micro-tribological behavior
of the super-hydrophobic STA monolayer was compared with that of the polished and PEI-coated Al surfaces. The effect of relative
humidity on the adhesion and friction was investigated as well. It was found that the STA monolayer showed decreased friction,
while the adhesive force was greatly decreased by increasing the surface roughness of the Al wafer to reduce the contact area
between the atomic force microscope (AFM) tip and the sample surface to be tested. Thus the friction and adhesion of the Al
wafer was effectively decreased by generating the STA monolayer, which indicated that it could be feasible and rational to
prepare a surface with good adhesion resistance and lubricity by properly controlling the surface morphology and the chemical
composition. Both the adhesion and friction decreased as the relative humidity was lowered from 65% to 10%, though the decrease
extent became insignificant for the STA monolayer.
The project supported by the National Natural Science Foundation of China (50375151, 50323007, 10225209) and the Chinese Academy
of Sciences (KJCX-SW-L2) 相似文献
9.
纳米科技于20世纪70年代兴起,进入21世纪越来越被大家耳熟。纳米科技在促进科技进步,提高社会文明程度,改善人类生存质量,更新对物质世界的认知及观念上扮演了举足轻重的角色。纳米是长度单位。一纳米为一米的十亿分之一,如果你的拇指指甲盖宽14毫米,这个比例就相当于拇指指甲盖宽度与地球直径间的比例。纳米科技所接触、研究、开发的是100纳米~0.1纳米范围内物质的性质和应用。一个分子或一个原子大小的数量级大致在10纳米。因此,纳米科技也可以说是在分子水平上观察、分析、研究物质的物理、化学性质并加以开发利用。 相似文献
10.
Nanoporous Structure in Low-Dielectric Films with Positronium Annihilation Lifetime Spectroscopy 下载免费PDF全文
We investigate nano-porous structures in thin low-dielectric films, i.e. the pore sizes, distributions, and interconnectivity, by using depth profiled positronium annihilation lifetime spectroscopy (PALS). It is found that PALS has good sensitivity to probe both interconnected and closed pores in the range from 0.3nm to 3Onto, even in the film buried beneath a diffusion barrier. A series of low dielectric constant films of organosilicon-silsequioxane with different weight percentages of porogen have been comparatively investigated. The PALS technique can be used to distinguish the open porosity from the closed one, to determine the pore size, and to detect the percolation threshold with the increasing porosity that represents the transition from closed pores to interconnected pores.Furthermore, the pore percolation length can be derived. 相似文献