3-周期轨道蕴含6831726876986508个85-周期轨道——连续函数中周期轨道数目的下确界

对区间[0,1]上的任一个连续函数f及任m,n≥1,以N(n,f)表示f中的n-周期轨道的数目,令:f是[0,1]上的连续函数且N(m,f)≥1。著名的sarkovskii定理所断言的是:当时N(n,m)≥1。本文则进一步对所有的正整数m及n求出了N(n,m)的准确值的便于计算的分析表达式。     

化整为零:聚合物/粘土纳米复合材料的微观结构和阻隔性能

在聚合物基体中掺入少量的层状硅酸盐所制备的聚合物／粘土纳米复合材料，其阻隔性能明显地优于纯聚合物及其传统的复合材料。实验及分析结果表明，聚合物／粘土纳米复合材料的微观结构和阻隔性能主要受控于粘土剥离后的径厚比．一简单的重整化群模型被用来评估粘土几何因素（诸如径厚比、取向、剥离程度等）对聚合物／粘土纳米复合材料阻隔性能的影响，所得到的逾渗阈值及最佳粘土含量与实验结果吻合。     

关于差分式放大器输入电阻的研究

差分式放大器在实际应用方面非常广泛,其理论分析方法的深入研究,对生产实践和教学都有重要的意义。采用电路理论分析、差放理论分析、“虚短”理论分析及实验的方法对差分式放大电路进行了研究。     

薄膜界面粗糙对双晶摇摆曲线的影响

用X射线衍射动力学理论,模拟计算InP衬底上InGaAs/AllnAs超晶格和InGaAs单层膜的X射线双晶摇摆曲线,计算结果表明:薄膜界面粗糙对单层膜的衍射峰和超晶格的零级衍射峰影响较小,但却明显影响单层膜衍射干涉条纹和超晶格的±1级卫星峰,随着平均界面粗糙度的增大,单层膜衍射干涉条纹强度减弱并趋于消失;超晶格的±1级卫星峰变弱并逐渐展宽,理论计算的模拟双晶摇摆曲线与超晶格实验曲线比较表明:高质量匹配In_0.53Ga_0.47As(85?)/Al_{0.4 关键词：}     

闭曲面上C0流有伪轨跟踪性质的条件

给出了闭曲面上奇点孤立的C⁰流有伪轨跟踪性质的充分必要条件     

利用生态资源优势,开发"红三角"地区有机食品

结合国内外有机农业和有机食品的发展趋势，简要分析了韶关、赣州和郴州“红三角”地区开发有机食品的自然生态资源条件和对当地社会、经济发展的重要意义，并对三地区开发有机食品提出了一些建议．     

电气试验中两个异常负值现象分析

介绍了在电气试验中遇到的两个奇异负值现象，探讨了造成这些现象的原因，并说明在工程实践中成功的解决方法。归纳了电气试验中消除干扰对电气试验结果影响的几点工作经验。     

热塑性/热固性聚合物共混体系研究——乙炔端基砜/聚砜共混物的动态固化动力学

The dynamic cure kinetics of thermosetting acetylene-terminated sulfone (ATS) and two blends prepared by the ATS and thermoplastic bisphenol A polysulfone (PSF), polyary-lethersulfone with cardo group (PES-C) were determinated by differential scanning calori-metry (DSC). The addition of polysulfone's resin increases the temperature of initial reaction and decreases the activation energy of cure reaction(E), pre-exponnential factor (LnA), and heat of cure reaction (AH). The temperature of reaction peak and final reaction and the reaction order(n) have been no effect.     

高密度电法在非煤矿山老窑采空区探测中的应用

由于矿山开采存在不明废弃老窑及采空区、老窑采空区资料不详、边界和积水情况不明等问题,矿山生产存在严重安全隐患。本文以湖南冷水江某金属矿山老窑采空区探测为例,采用高密度电法实施了4条物探测量剖面,经数据反演处理解译,共推断出8个采空区异常,其视电阻率特征均为高阻异常,显示其均为非充水采空区,根据已有矿体产出形态,推测采空区体积共约2 484 m³,基本确定了采空区的整体情况。     

X射线三晶衍射研究YBa2Cu3Oy超导薄膜

应用X射线三晶衍射对LaAlO₃衬底上生长的YBa₂Cu₃O_y薄膜中的应力水平、存在的主要缺陷,以及薄膜与衬底的失配和取向关系等进行了研究。结果表明,薄膜在衬底上几乎完全松弛,应力很小,薄膜存在较严重的晶格取向差缺陷,这是影响薄膜晶体结构完整性的主要因素。此外,衬底与薄膜在垂直于表面和平行于表面方向都存在取向差。 关键词：