排序方式: 共有19条查询结果,搜索用时 406 毫秒
1.
2.
研制了一种用于WDM光通信系统的多层介质膜Fabry-Perot腔结构式光开关,面积为1.5mm×1.5mm.光开关采用多层复合膜消除内应力,防止产生过度变形;中心的十字复合梁有利于提高机械灵敏度,降低驱动电压.体硅腐蚀出的硅杯既减小了光开关的插损,又便于端面输入输出光纤的精确对准与固定,有效降低封装成本.制成的开关转换电压为20V,关态隔离度为87%,开态插损为0.15dB.其结构和工艺简单,易于与IC工艺相结合形成规模生产,如增加膜的层数便能制成基于F-P干涉仪结构的滤波器. 相似文献
3.
5.
基于局部基底弯曲法的高灵敏度薄膜应力测试技术 总被引:4,自引:0,他引:4
针对MEMS(micro-electro-mechanical system)和NEMS(nano-electro-mechanical system)对薄膜应力测试的要求,开发了一种新型高灵敏度薄膜应力测试技术,使用自行搭建的准纳米光学干涉测试系统,利用局部基底弯曲来检测薄膜的内应力.该方法不仅保留了传统基底弯曲法的所有优点,而且消除了其系统误差.使用ANSYS对测试结构进行了模拟和优化,对于30nm厚的薄膜,应力检测的分辨率为1.5MPa,优于目前国际上的相关报道.本测试结构使用各向异性腐蚀和DRIE(deep reactive ion etching)完成,加工工艺简单实用.文中使用该测试技术对常用MEMS薄膜的残余应力进行了测量,结果与其他测试方法得到的结果基本一致,测量重复性优于1%.该技术可以用于测试纳米级薄膜及超低应力薄膜的内应力. 相似文献
6.
7.
8.
针对MEMS(micro-electro-mechanical system)和NEMS(nano-electro-mechanical system)对薄膜应力测试的要求,开发了一种新型高灵敏度薄膜应力测试技术,使用自行搭建的准纳米光学干涉测试系统,利用局部基底弯曲来检测薄膜的内应力.该方法不仅保留了传统基底弯曲法的所有优点,而且消除了其系统误差.使用ANSYS对测试结构进行了模拟和优化,对于30nm厚的薄膜,应力检测的分辨率为1.5MPa,优于目前国际上的相关报道.本测试结构使用各向异性腐蚀和DRIE(deep reactive ion etching)完成,加工工艺简单实用.文中使用该测试技术对常用MEMS薄膜的残余应力进行了测量,结果与其他测试方法得到的结果基本一致,测量重复性优于1%.该技术可以用于测试纳米级薄膜及超低应力薄膜的内应力. 相似文献
9.
Stable 85Rb micro vapour cells: fabrication based on anodic bonding and application in chip-scale atomic clocks
下载免费PDF全文
![点击此处可从《中国物理 B》网站下载免费的PDF全文](/ch/ext_images/free.gif)
We describe the microfabrication of 85 Rb vapour cells using a glass-silicon anodic bonding technique and in situ chemical reaction between rubidium chloride and barium azide to produce Rb.Under controlled conditions,the pure metallic Rb drops and buffer gases were obtained in the cells with a few mm 3 internal volumes during the cell sealing process.At an ambient temperature of 90 C the optical absorption resonance of 85 Rb D1 transition with proper broadening and the corresponding coherent population trapping (CPT) resonance,with a signal contrast of 1.5% and linewidth of about 1.7 kHz,have been detected.The sealing quality and the stability of the cells have also been demonstrated experimentally by using the helium leaking detection and the after-9-month optoelectronics measurement which shows a similar CPT signal as its original status.In addition,the physics package of chip-scale atomic clock (CSAC) based on the cell was realized.The measured frequency stability of the physics package can reach to 2.1×10 10 at one second when the cell was heated to 100 C which proved that the cell has the quality to be used in portable and battery-operated devices. 相似文献
10.
许多高性能微传感器和微执行器的实现都离不开高灵敏度的薄膜。使用微机械加工方法制备的薄膜一般有着不可忽视的残余应力。残余应力极大地降低了膜的机械灵敏度。文中提出的纹膜结构 ,可在不改变工艺条件的前提下 ,显著地降低残余应力的不良影响 ,大幅度增加膜的灵敏度。理论分析的结果表明 ,纹膜几何参数的设计是提高灵敏度的关键。文中提出了一种简单实用的纹膜制造工艺 ,并结合此工艺设计出若干实际的结构 ,利用有限元分析 (FEA)工具对结构进行了进一步的模拟和优化 ,得到了各项设计参数的最优值。优化后纹膜的灵敏度较平膜提高了一个数量级 ,可用于各种高性能 MEMS器件的制作 相似文献