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目前,测量角位移的光电码盘体积大而且对使用环境要求苛刻,不适用于某些特殊场合,如果直接使用旋转变压器测量,又因为其输出信号中混合有许多杂波信号,所以给精确解码造成了很大困难。因此,设计通过使用AD公司的专用解码芯片AD2S1210配合STC89C52单片机以及外围的调理电路、滤波放大电路等构成的旋转变压器角位移测量系统来满足工程中角位移测量精度高的需求。通过搭建角位移测量系统的实验平台对实验数据进行分析后,得出最终解码角度误差可达到0.055°,可满足一般的应用需求,具有较高的实际应用价值。 相似文献
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针对目前光纤环缺陷检测方法可靠性低、实用性差的问题,提出一种基于改进低秩表示模型的光纤环缺陷检测算法。基于低秩表示理论对缺陷检测问题进行模型构建,将无缺陷的光纤环图像建模为低秩结构,将缺陷建模为稀疏结构;同时将拉普拉斯正则化约束项施加到低秩表示模型中,以扩大缺陷区域与背景之间的差距;为了提高算法的效率,采用幂法迭代的思想来实现奇异值分解。通过实验对算法进行验证,结果表明,所提算法对不同类型的缺陷均具有良好的检测性能,且与其他算法相比,取得最优的表现。 相似文献
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