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1.
惯性约束聚变频率转换系统中,大口径薄型KDP晶体的面形质量是影响频率转换效率能否达到设计要求的关键因素之一。针对45放置状态下口径为400 mm400 mm的三倍频KDP晶体,采用ANSYS有限元分析软件,建立了不同夹持方式和具有不同加工误差的KDP晶体模型和夹具模型,分析了加工误差对不同夹持方式下KDP晶体附加面形的影响,给出了不同加工误差和不同夹持情况下,KDP晶体附加面形的P-V值和RMS值。研究结果表明,夹持方式和加工误差是引起KDP晶体附加面形变化的重要因素,正面压条夹持方式即使在晶体和夹具存在加工误差时也可以较好地控制晶体的附加面形。  相似文献   
2.
针对压条固定方式、粘胶固定方式和全外围夹持方式进行理论建模和数值计算分析,并讨论了不同夹持方式的优缺点及其对KDP晶体面形和三倍频转换效率的影响。研究结果表明:晶体面形形变对高斯光束三倍频转换效率的影响明显小于平面波时的情况。当入射基频光光强为6 GW·cm-2时,对于平面波的情况,压条固定方式、粘胶固定方式和全外围夹持方式3种夹持方式相对于不考虑夹持作用时的三倍频转换效率分别减小7.5%,9.0%和7.2%;对于高斯光束的情况,三倍频转换效率分别减小了1.3%,1.0%和1.5%。  相似文献   
3.
为分析喷流冷却复合陶瓷薄片激光器的热特性,设计用于冷却复合陶瓷薄片的喷流冷却系统.利用湍流换热理论和计算流体动力学仿真方法建立喷流冷却复合陶瓷薄片激光器的流固耦合热仿真模型,定义评价其冷却能力和冷却均匀性的定量参数.根据该仿真模型得到喷流冷却系统的最优设计参数,并进行实验验证.使用163孔喷板,流量为0.2kg/s,入口温度为20℃,在1200 W泵浦时获得359 W激光输出功率,并测得复合陶瓷薄片上表面的最高温度为92℃.激光输出功率与复合陶瓷薄片上表面温度均与泵浦功率呈近似正线性关系,且温度的实验值与仿真值相符度较高.  相似文献   
4.
电源供电电路设计对DSP系统的可靠应用具有十分重要的意义。针对TI公司DSP芯片TMS320F2812的双电源供电电路,结合双电源供电芯片和上电复位芯片的应用特点,实现了1.9V的核电源和3.3V的I/O电源的双电源供电电路,并对电路中主要芯片的应用电路作了相应分析。在上电次序上,本设计满足I/0电源和核心电源的上电先后顺序要求。经验证双电源启动电路完全满足启动要求,所有设计电路工作稳定可靠,本设计为DSP应用系统稳定工作提供了有效的保障。  相似文献   
5.
为了分析喷流冷却技术对薄片激光器的冷却效果,从湍流换热理论出发,定义了评定喷流冷却换热能力和冷却均匀性的两个参数:面均对流换热系数和平均最大温差。利用ANSYS CFX流体力学仿真软件,建立喷流冷却的物理模型,对多种喷板结构进行求解计算。设计加工了整套喷流冷却实验装置,并进行了模拟热源喷流冷却实验。分析结果表明,喷流冷却换热能力和冷却均匀性主要受喷板结构参数的影响,仿真计算结果可以定性地指导喷板结构参数的优化设计。  相似文献   
6.
介绍了数字信号处理器TMS320LF2407A的串行外设接口,给出了EEPROM存储器X5165与TMS320LF2407A的硬件连接电路和应用程序实例。  相似文献   
7.
为满足惯性约束聚变(ICF)实验对激光驱动器高效三倍频能力的要求, 对离线测量晶体角度相位匹配方案进行了优化。采取的主要优化措施是:提高晶体准直技术能力;降低模拟小口径激光输出变化对测量不稳定性的影响。通过理论分析和对实际测量结果的系统分析,得到了晶体离线测量的不确定度:其中二倍频相位匹配角测量扩展不确定度为15.94 rad,三倍频相位匹配角测量扩展不确定度为27.8 rad,达到了较高的晶体离线测量精度要求。  相似文献   
8.
原子荧光光谱分析是一种非常实用的痕量分析技术。酸化过的小麦粉溶液中的汞与还原剂硼氢化钾反应,生成氢化物;过量氢气和气态氢化物与载气混合,进入原子化器,汞空心阴极灯激发氩氢焰中的汞原子,跃迁回基态时发出的荧光信号被日盲光电倍增管接收,然后经放大、解调、再由数据处理系统得到结果。在使用AFS2202E型原子荧光光度计检测小麦粉中汞时,应注意以下几个问题。1试样消解以微波消解最为理想,但消解装置价格太高;常压回流消解耗时太长;与单体高压消解罐相比较经济、省时。(1)消解时应注意烘箱温度的控制,以120℃为宜,3 h即可;温度高些,…  相似文献   
9.
为了适应CO2激光器小型化的趋势和降低生产成本的要求,基于矩阵光学理论,提出并研究将众多根放电管轴对称平行安排,由紧凑的轴对称四镜腔提取激光的方案,并对谐振腔的传输特性和输出特性进行了分析和模拟.分析表明:在近场范围内,输出光束为多支靠得极近的光束并在放电管数量众多时可为一环形光束;在远场,输出光束合并为一条光束.  相似文献   
10.
传统的基于趋势分析的老化检测方法可能存在较高的误报。虽然多版本检测方法将先前的健壮版本作为基准版本与待测软件版本进行差分分析,但基准版本是否存在软件老化问题被忽略。为了解决以上问题,提出了一种基于差分分析的负载相关方法来检测软件老化。该方法对待测软件施加不同强度的负载,通过监控不同负载下内存资源消耗(驻留集大小(resident set size,RSS))趋势的差异并分析其与负载差异之间的关系,帮助开发人员在软件开发过程中检测单个版本(无需先验知识)的软件老化。实验结果表明,本文的方法能够检测出由内存泄漏引发软件老化,并且能够应用到真实的商业软件Squid中。  相似文献   
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