偏置对PMOS剂量计辐照响应的影响

研究了不同偏置条件对PMOS探头样品辐照响应的影响.在－1～1MV/cm的电场范围内,获得了偏置对PMOS剂量计辐照响应灵敏度和线性度的影响规律.利用“空穴陷阱薄层(Hole Traps Sheet)”模型,结合辐射感生界面电荷的栅偏置电场相关性,分析了实验结果.     

Spacewire通讯路由器单粒子功能中断测试系统研究

随着大规模集成电路在航天器中的广泛应用,器件单粒子效应的抗辐射性能成为了航天器在太空中安全运行的关键性因素.对超大规模集成电路抗辐射性能的评价显得越来越重要.针对一款Spacewire通讯路由器,根据其工作原理,搭建一套单粒子功能中断测试系统,对系统进行了验证,评估了该器件的抗辐射性能.     

基于量子微扰的AlGaN/GaN异质结波函数半解析求解

基于量子力学微扰理论的分析，得到AlGaN/GaN异质结波函数的半解析模型.给出了模型的理论分析和计算结果.对于相同问题，给出了与差分算法的对照结果.与传统的差分方法相比，半解析方法具有收敛性强、大规模问题计算效率高的特点，更适合作为AlGaN/GaN异质结量子阱的求解算法. 关键词： AlGaN GaN 量子阱 薛定谔方程     

PMOS剂量计的退火特性

研究了PMOS剂量计在不同温度和栅偏置下的辐照退火表现.结果表明：温度和退火偏置条件是影响初始退火速率和退火幅度的重要因素,较高退火温度下,退火速率高,幅度大;相同退火温度下,正偏置与负偏置相比有加速退火的作用,其退火幅度也较大.在180℃,零偏条件下获得了最快的100％的退火效果;用模型讨论了实验结果.     

电离辐射对CMOS运算放大器恒流偏置电路的影响

介绍了确定 CMOS运算放大器各级工作点的恒流源偏置电路随辐照总剂量变化的响应特征及其辐照敏感性对运放整体性能参数的影响规律。结果表明 ,恒流源特性的衰降对电参数的变化有一定的影响 ,但在一定范围内并不是造成辐射感生运放电参数衰变的最主要原因     

注F MOS器件的可靠性研究

对注FMOSFET和CC4007电路进行了60Co－γ辐照和退火行为的分析研究，结果表明：栅介质中F的引入，能明显减小CC4007电路辐射感生阈电压的漂移和静态漏电流的增长；抑制高温贮藏引起的CC4007电路漏电流的退化，减小辐射感生氧化物电荷和界面态在退火过程中的再生长速度．F－Si键的形成将减小MOS栅氧介质的电导率．     

辐射感生应力弛豫对Alm Ga1-m N/GaN HEMT电学特性的影响

基于电荷控制原理建立了辐射感生AlmGa1-mN势垒层应力弛豫对AlmGa1-mN/GaN HEMTs器件电学特性影响的解析模型,并进行了仿真分析.结果表明,对于高Al组分HEMTs器件,AlmGa1-mN势垒层中辐射感生的应力弛豫影响更为显著.辐射感生应力弛豫不但导致2DEG下降和阈值电压正向漂移,而且能够引起漏极输出电流的明显下降.辐射感生应力弛豫是赝配AlmGa1-mN/GaN HEMTs辐射损伤的重要机理之一.     

纤锌矿GaN低场电子迁移率解析模型

在GaAs低场电子迁移率解析模型的基础上得到了纤锌矿GaN低场电子迁移率的解析模型,该模型考虑了杂质浓度、温度和杂质补偿率对低场电子迁移率的影响.模拟结果和测量数据的比较表明该模型在10 16～10 2 0 cm-3的电子浓度、30～80 0K的温度和0～0 9的杂质补偿率范围内具有较好的一致性.该电子迁移率解析模型对于GaN器件的数值模拟和器件仿真设计具有很强的实用意义.     

辐射感生应力弛豫对AlmGa1－mN/GaN HEMT电学特性的影响

基于电荷控制原理建立了辐射感生Al_mGa_1-mN势垒层应力弛豫对Al_mGa_1-mN/GaN HEMTs器件电学特性影响的解析模型，并进行了仿真分析.结果表明，对于高Al组分HEMTs器件，Al_mGa_1-mN势垒层中辐射感生的应力弛豫影响更为显著.辐射感生应力弛豫不但导致2DEG下降和阈值电压正向漂移，而且能够引起漏极输出电流的明显下降.辐射感生应力弛豫是赝配Al_mGa_1-mN/GaN HEMTs辐射损伤的重要机理之一. 关键词： mGa_1-mN/GaN')" href="#">Al_mGa_1-mN/GaN HEMT 辐射损伤 应力弛豫