元器件内部气体含量与可靠性研究

本文探讨了密封元器件内部气体含量超标对元器件质量可靠性的危害性：A、造成元器件内部环境的化学污染，加速对内部金属的腐蚀作用，导致元器件失去应有的功能；B、引起元器件内部的软焊料和碳膜发生氧化反应，影响元器件的质量和贮存寿命；C、导致元器件绝缘性能下降或参数超差；D、低温下引起继电器功能失效等。同时，对密封元器件内部气体含量超标的原因也作了分析，并提出了一些改进措施。     

DC／DC电源模块测试及老化系统的开发和应用

本文概要地介绍了DC／DC电源模块测试系统的测试软件开发和测试夹具的设计,对老化系统的开发和设计也作了详细的说明,对DC／DC电源模块测试及老化系统在航天型号中的应用情况也作了分析。     

亚宇航级集成电路详细规范的制订与技术水平分析

本文介绍了亚宇航级集成电路详细规范的确认原则及其特点,并对亚宇航级和宇航级进行了比较和分析,对于国内有关部门了解和编制亚宇航级集成电路详细规范,提高军用集成电路质量可靠性及标准化技术水平有一定的参考价值。     

航天电子元器件可靠性增长工程产品详细规范的水平控制

本文介绍了航天电子元器件可靠性增长工程的攻关目标，产品详细规范的制订与水平控制原则，并介绍了可靠性增长工程产品详细规范的特点，对于国内元器件研制单位编制产品详细规范，提高标准化技术水平和产品质量有较好的参考价值。     

新品鉴定中的案例分析及注意事项

本文系统地总结了新品鉴定的一般试验项目（A组、B组、C组、D组、E组），详细地分析了许多新品鉴定案例，并结合实际提出了许式改进方法和注意事项，对于今后的新品鉴定工作具有良好的指导意义，对于新品研制单位也具有一定的借鉴作用。     

DC／DC电源模块测试及老化系统的开发和应用

概要介绍DC/DC电源模块测试系统的测试软件和测试夹具，详细说明老化系统的开发和设计，分析DC/DC电源模块及老化系统在航天系统中的应用。     

集成电路补充筛选的重要性

本文概要地介绍了集成电路补充筛选试验在航天型号研制中的重要性，对集成电路补充筛选的原则及筛选工艺流程也作了详细的介绍，对测试试验，功率老化试验，DPA试验在补充筛选试验中的重要性作了详细的分析。