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1996年
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1991年
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1986年
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1
1.
CdS半导体非线性吸收中的电场作用
总被引:1,自引:0,他引:1
熊光楠
徐叙溶
申猛燕
李多禄
戚继发
《半导体学报》
1991,12(3):172-176
在CdS的室温光学非线性吸收过程中,再外加直流电场,观察到光学非线性吸收随外场增大而增大,非线性出现的光强阈值随外场增大而减小.通过实验判断这一现象来源于电子激子散射.
相似文献
2.
非等强度,等脉冲相关技术测量甲酚紫染料的吸收恢复时间
李多禄
刘俊业
《光谱学与光谱分析》
1993,13(3):7-10,20
利用非等强度、等脉冲相关技术测量甲酚紫染料吸收恢复时间。实验结果给出了甲酚紫染料吸收恢复时间为158ps。
相似文献
3.
掺半导体玻璃波导光栅耦合器及其功率限制作用
郑杰
徐迈
王淑荣
文雨水
邹景惠
霍振光
李多禄
《量子电子学报》
1994,(1)
本文报导了在掺半导体玻璃波导上用离子刻蚀的方法制备出了表面刻蚀光栅耦合器。观察到了光栅耦合器的耦合效率随着输入激光功率增加而下降的功率限制作用。
相似文献
4.
低温下ZnSe-ZnS多量子阱的光致发光光谱和喇曼散射谱
下载免费PDF全文
赵福潭
李多禄
苏锡安
王淑梅
范希武
《发光学报》
1996,(1)
本文报导了2K下,在GaAs(100)衬底上用MOCVD方法生长的ZnSe-ZnS多量子阱材料的光致发光光谱和喇曼散射谱.用共振激发、共振喇曼和共振瑞利散射等方法对各发光谱带和喇曼散射峰的来源和机制进行了鉴别.
相似文献
5.
微微秒光脉冲宽度测量
李多禄
田乃良
《液晶与显示》
1986,(3)
在微微秒光谱实验中,光脉冲时间宽度测量是比较重要的参数。测量手段主要有:自相关技术,双光子荧光法及条纹照像法等。我们利用自相关技术,对微微秒激光系统,进行超短脉冲宽度的测量。自相关器分辨率比较高,能分辨到0.5ps,虽然自相关技术发展比较早,但实际测量中仍然存在技术和方法的问题。本文主要介绍实验测量和自相关原理。
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