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卷积混合信号盲源分离可以在频域得到有效解决,但频域盲源分离必须解决排序问题.本文研究了频点距离和各频点分离质量对基于相邻频点幅度相关性的排序算法的影响,提出了改进的频域盲源分离排序算法.改进算法通过影响因子来控制频点距离和各频点分离质量对排序的影响,距离小且分离质量好的频点设置较大影响因子,距离大或分离质量不好的频点则设置较小影响因子.文中详细讨论了影响因子的设定函数.最后对瞬时混合信号、卷积混合信号、实际房间采集信号分别进行盲源分离实验.实验结果表明了本文算法的有效性. 相似文献
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基于射频识别技术原理及Friis传输方程, 导出了自由空间下无源超高频射频识别(RFID) 系统路径损耗表达式. 结合菲涅耳区理论, 分析了菲涅耳余隙及阅读器天线至标签间距两因变量条件下 第一菲涅耳区受阻隔对RFID系统路径损耗的影响, 并提出了双斜率对数距离路径损耗模型. 在开阔室内环境下, 测试了菲涅耳余隙及阅读器天线至标签间距变化时的系统路径损耗. 测试结果表明: 菲涅耳余隙大于第一菲涅耳区半径1.5倍时, 刃形障碍物对系统路径损耗影响较小; 相比传统对数距离路径损耗模型, 双斜率模型标准差减小10%.
关键词:
射频识别
路径损耗
菲涅耳区
线性回归 相似文献
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针对二维泊松方程在实际应用过程中几种常用方法存在计算量大、易发散、局部收敛等不足,提出了一种改进算法.该算法基于并行超松弛迭代法,采用遗传算法对松弛因子进行全局寻优,解决了超松弛迭代法求解泊松方程时最佳松弛因子难以确定的问题.构建了多目标适应度函数,优化了遗传算子参数,分析了算法的计算量、计算时间与误差精度,与传统方法进行了对比研究.结果表明:松弛因子对泊松方程求解的速度与精度影响显著;改进算法能减少迭代次数,节省计算时间,加快方程的求解;算法适合于求解计算量较大、精度要求较高的时域有限差分方程,而且精度要求越高,算法的性能越好,节省的时间也越多. 相似文献
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集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段.CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题和相关标准,包括IEEE 1149.1-1990到IEEE 1149.6-2003,IEEE 1450,IEEE 1500,IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准.总结了集成电路测试标准的特点和最新进展,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性,并对今后集成电路测试技术标准的发展给出了预测. 相似文献
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