EFPI腔内损耗对干涉条纹可见度的影响

利用多光束干涉原理和几何光学方法,分析了非本征F-P干涉仪(EFPI)腔内损耗对干涉仪的影响,详细推导了EFPI腔长与反射光干涉条纹可见度之间的关系,确定了在可测条纹可见度的要求下EFPI腔长的范围.     

非本征光纤F—P传感器制作工艺的研究

本文分析了非本征光纤F-P传感器制作工艺上存在的问题,对传感器工艺制作进行了研究.设计了半自动光纤F-P腔调节工作台,利用光纤五维调节架对光纤进行插入和对准,提高了光纤F-P传感器制作的速度和质量.