中心波长为28.5nm多层膜镜反射率测量

在“星光-Ⅱ”装置上以类Ne铬x射线激光作为标定源，以平场光栅谱仪为分光元件进行了285nm的Mo/Si多层膜反射镜效率测量.介绍了实验方法，给出了实验结果，本次研制的两块多层膜镜反射率分别为31%和9.6%. 关键词： x射线多层膜反射镜 反射率测量 x射线激光     

与地下石油储备库有关工程地质问题研究现状和对策

我国将要兴建实施较大规模战略石油储备地下库面临一系列工程地质问题和挑战。为更好地服务于库址选择和规划,为工程设计和施工提供地质依据,本文在总结归纳已有工程实例和分类基础上,结合作者已经完成的两个石油战略储备基地选址评价,提出和分析了与地下油库有关工程地质问题及相应对策。     

从3ω0／2,2ω0谐波观察X光激光等离子体状态

本文简单介绍了在Ｘ光激光实验中，用３ω０／２，２ω０谐波散射时间谱来观察Ｘ光激光等离子体密度时间特性。实验中观察到薄膜锗靶和厚猪明显不同的３ω０／２谐波时间特性，在厚锗靶中观察到Ｘ光激光的产生与３ω０／２，２ω０谐波的发存在着密切的关系。     

用类He离子谱线强度比测量激光产生等离子体电子温度和密度

一、引言在X光激光(XRL)和惯性约束聚变(ICF)研究中,等离子体电子温度和密度是表征等离子体状态的重要参数之一。虽然等离子体辐射各谱线强度与发射源的温度,密度和离子丰度直接相关,但要得到各谱线的绝对强度是很困难的,因为用于测量谱线强度探测器的绝对刻度相当困难。早在70年代初,苏联Aglitskii等首次用类He离子谱线强度比测量等离子体电子温度和密度。由于用该方法测量等离子体电子温度和密度可避免对探测器绝对     

类氖锗X光激光增益实验

本文介绍了在LF-12激光器上进行的类氖锗X光激光增益实验。当泵浦激光波长为1.053μm,脉宽为1.1～1.4ns、能量为550～650J、线聚焦焦斑为185μm×20mm时,使用片状锗靶测量波长为19.61、23.22、23.63、24.73及28.65nm的五条激光跃迁线的增益分别为3.06、3.99、3.72、2.36及4.59cm^(-1)。实验给出了关于柱形等离子体激光介质发射区厚度及软X射线激光发射角的实验数据。实验也给出了软X射线激光强度随泵浦激光功率密度变化的讯息。最后分析了由薄膜锗X光激光靶进行的增益实验中未看到激光增益线的原因。     

西气东输管道工程FA014+2～FA014+3号桩跨越场地的边坡稳定性评价

通过野外地质调查确定研究区的区域地震活动、工程地质条件和受力边界条件, 采集样品进行测试获取岩体的基本物理力学指标, 在此基础上进行不同条件下 (天然、饱水、饱水 +震动力 )的边坡三维模拟定量分析, 评价边坡的稳定性, 提出工程建议。     

低泵浦能量类氖锗等离子体软X射线激光实验

提出并采用具有一定时间间隔的双束脉冲加热锗薄膜靶方法，在泵浦激光能量１００Ｊ，靶长１０ｍｍ的实验条件下，观察到波长１９．６１ｎｍ和２３．６３ｎｍ两条类氖锗３ｓ－３ｐ激光跃迁线。１９．６１ｎｍ（Ｊ＝０－１）的激光跃迁线发射强度较２３．６３ｎｍ（Ｊ＝２－１）激光线的强度大，其发散角较后者小。     

系综Monte Carlo方法

本文系统地给出了Monte Carlo模拟的一般方法在各种系综条件下的表述以及它们的算法。     

用类Ne离子L带特征线诊断等离子体特性初步实验研究

本文描述在X光激光实验中用平晶谱仪测量类Ne锗离子L带线谱,首次借助于碰撞辐射模型,用L带特征线的强度所确定等离子体电子密度和温度。并用平晶谱仪配条纹相机测量等离子体的时间特性。     

X光激光实验中的等离子体状态诊断

在LF-12激光装置上,将500～600J、约1.5ns脉冲宽度的Nd玻璃激光聚焦成约120μm宽、20mm长的线作用到1mm厚的锗平面靶上。在靶室内设置具有空间分辨本领的平晶谱仪(测量波长范围在0.6～0.9nm)诊断锗等离子体状态。用2p-nd(n≥4)能级跃迁的类Ne离子谱线间的相对强度比估计等离子体电子温度在400～600eV。在实验中测到的线谱主要是类Ne GeXXⅢ离子产生的,类F GeXXⅣ离子产生的谱线次之,类Na GeXXⅡ离子产生的谱线比较弱。并且初步观察到线状等离子体轴向分布均匀性和横向离子分布特征。