低温氮化硅薄膜的介电性能研究

研究了微波电子回旋共振等离子体化学汽相沉积低温氮化硅薄膜在5—10⁶Hz频率范围内的介电性能．由于低温氮化硅薄膜为具有分形结构的纳米非晶薄膜，致使氮化硅薄膜的介电谱、损耗谱在低频区和高频区具有两种不同的分布规律．在低频区介电谱具有ε′∝ω^n－1₁的关系，ｎ₁在0.82—0.88之间，是电子跳跃导电的结果；在高频区介电谱具有ε′∝ω^n-1₂的关系，n₂在0 关键词：     

分光光度法测定赛克洛托炸药组分的含量

采用分光光度法对赛克洛托成分进行分析。绘制TNT标准曲线,首先测定赛克洛托中TNT的含量,然后用100%减去TNT的含量即可求得RDX的含量。该方法简便、快速,测定结果与传统萃取法测定结果相吻合,可以取代萃取法应用于实际生产中。