X射线荧光分析用全聚焦分光晶体的磨制

目前Ｘ射线光谱仪中常用的晶体有：平面反射晶体,柱面弯曲反射晶体,柱面弯曲透射晶体,边缘晶体和双曲晶体,其中以平面反射和柱面弯曲反射晶体的应用最为普遍．由于平面反射晶体分光计是非聚焦的,衍射的Ｘ射线不能为探测器全部接收,因此,Ｘ射线强度损失较大．柱面弯曲反射晶体,就其聚焦方式而言,有半聚焦和全聚焦之分．所谓半聚焦（Ｊｏｈａｎ式）即将平面晶体弯成半径为２Ｒ的往面（Ｒ为聚焦圆半径）,此时,晶体点阵?...