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使用PSD作为大口径光学元件表面加工质量的评价参数,针对不同的波前调制进行了初步的模拟计算,得到了不同调制频率和不同调制深度情况下的PSD曲线变化情况。当调制频率不同时,PSD曲线的突变部分会发生相应的频移,调制频率高则突变发生在空间频率较高的频段,同时PSD峰值不变。相对应调制深度不同时,PSD曲线的突变部份峰值发生变化,调制深度大则峰值大,与此同时峰值出现的位置不会发生变化。计算和分析结果表明PSD分析结果能够在频率域反应出元件表面受到的不同程度的调制信息。 相似文献
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在加工光楔列阵线聚焦系统时,人为地使各单元楔角与精确的理论值之间存在一定的偏差,以使单元衍射引起的大尺度不均匀性得到改善,文中进行了理论计算和实验验证,在既能改善均匀性,又能保证一定的焦线能量利用率的情况下,给出了合理的偏差数据,为优化均匀聚焦系统的工程设计提供了必要的依据。 相似文献
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