Z衬度扫描透射电子显微术的前沿进展

文章介绍了Z衬度扫描透射电子显微术(Z-scanning transmission electron microscopy，Z-STEM，Z为原子序数)的最新进展：Z-STEM可以直接“观察”到晶体中原子的真实位置，Z衬度图像的分辨率在经过球差校正后可达0．6A；在利用Z衬度成像技术对材料的阴极荧光(cathodoluminescence，CL)性质的研究中，首次观察到了“死层”(dead layer)的存在．然后，文章以半导体与结晶氧化物界面结构、Al72Ni20Co8十角形准晶结构以及SrTiO3晶界结构为例，具体介绍了Z衬度成像在测定物质结构与化学组成方面独特的优势。