微颗粒样品X射线定量分析Monte Carlo模拟计算软件

基于作者前文[1,2]的物理模型和计算方法,编制了适用于多元微颗粒样品x射线定量分析的Monte Carlo程序软件,给出了对颗粒中电子散射,x射线激发、吸收和荧光效应等复杂物理过程进行严格计算的一系列公式,程序中建立了数据文件,具有较强的自动处理数据功能,本程序还适用于平厚块样品及薄膜样品的定量分析计算。     

Monte Carlo方法计算微颗粒的X射线强度

本文提出了用颗粒大截面与Gauss分布电子束相截来计算颗粒X射线强度的方法。电子能量为20keV,25keV时,对Al,Cu,Au等元素的球体、长方体、椭柱体、椭球体等规则颗粒计算了特征X射线强度。电子散射的Monte Carlo计算是用文献[1]的模型进行的。 关键词：     

规则形状多元组份样品的X射线微区定量分析计算方法

本文提出了用Monte Carlo迭代计算实现规则形状多元组份样品X射线定量分析的理论和方法。用绝对法计算了样品的X射线深度分布函数,给出了具有广泛适用性的X射线吸收校正和二次荧光校正计算公式。作为实例,对Fe-Cr-Ni标准合金块状样品、6元合金球状颖粒样品及合金γ′相(8元组份)的立方和长方颗粒样品作了EPQA实验,用本方法对实验结果作了计算,得到满意的结果。文中给出定量分析计算程序流程图。电子在合金中散射过程用文献[1]提出的模型进行计算。