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SiO2-羟基表面上金属原子的第一性原理研究   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
采用第一性原理方法研究了SiO2-羟基表面上几种金属原子的吸附性质,发现In和Ga在SiO2-羟基表面上的结合很弱,而Fe,Co,Ni在该表面上与Si,O形成强的化学键.等势能面和扩散势垒计算表明In(Ga)的扩散激活能只有0.1-0.3 eV,表明这两种原子容易在表面上扩散.这些结果可以定性地解释纳米合成中的一些实验现象.  相似文献   
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SiO2-羟基表面上金属原子的第一性原理研究   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
姚红英  顾晓  季敏  张笛儿  龚新高 《物理学报》2006,55(11):6042-6046
采用第一性原理方法研究了SiO2-羟基表面上几种金属原子的吸附性质,发现In和Ga在SiO2-羟基表面上的结合很弱,而Fe,Co, Ni在该表面上与Si,O形成强的化学键.等势能面和扩散势垒计算表明In (Ga)的扩散激活能只有0.1—0.3 eV,表明这两种原子容易在表面上扩散.这些结果可以定性地解释纳米合成中的一些实验现象. 关键词: 第一性原理 表面扩散 结合能 金属原子  相似文献   
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