不同构型(In,Al)GaN合金发光机理的第一性原理研究

基于第一性原理的密度泛函理论,研究了纤锌矿（In,Al）GaN合金的4种构型（均匀、短链、小团簇、团簇-链共存模型）的电子结构和发光微观机理。结果表明,在InGaN合金中,短In-N-链和小In-N团簇都局域电子在价带顶（VBM）态。当小团簇与短链共存时,前者局域电子的能力明显强于后者,是辐射复合发光中心。然而,在AlGaN合金中,电子在VBM态的局域受短Al-N链和小Al-N团簇的影响并不显著。合金微观结构的不同会引起电子局域的改变,从而影响材料的发光性能,并对带隙和弯曲系数有重要影响。     

不同评价函数下阵列天线自修复分析

由大量阵元组成的阵列天线其性能受不断出现的失效阵元影响,可通过进化重配置阵列中剩余正常阵元激励实现性能修复。分析了阵列天线进化重配置过程,综合分析了自修复过程中评价函数类型,设计了不同评价函数分析流程,通过Chebyshev直线阵的自修复仿真实验,分析了不同评价函数对阵列天线自修复结果的影响,分析结果表明,基于性能参数的评价函数和方向图匹配与性能参数相结合评价函数具有较好性能,该分析结果为具有失效阵元的阵列天线自修复中评价函数选择提供了参考。     

导电环氧树脂消除扫描电子显微镜图像荷电问题的原理与实践

荷电问题常造成扫描电子显微镜(SEM)图像上产生亮度不均、条纹等伪影.提出一种利用导电环氧树脂镶嵌样品以消除SEM图像荷电的方法,并与传统导电胶粘贴制样方法对1 000℃高温混凝土、瓷土与河南双槐树考古土三种样品的适应性进行了对比研究.结果表明,利用铜粉与环氧树脂混合制备导电环氧树脂并将样品镶嵌其中所制备样品的SEM图像基本无荷电问题,而传统导电胶粘贴方法所制备样品的SEM图像存在较严重的荷电问题,通过增加导电层厚度并不能对此进行改善,且易造成微纳结构被掩盖.最后对传统制样方法导致荷电问题的原因与导电环氧树脂对荷电问题的改善原理进行了分析.