X射线荧光光谱粉末直接压片法测定哈默斯雷铁矿中的主次元素含量

本方法采用塑料环作镶圈，粉末直接压片，用X射线荧光光谱法测定哈默斯雷铁矿中的TFe、SiO2、Al2O3、P、S、Cu、MgO和Na2O的含量，试验结果表明：基体影响无需进行校正，方法的准确度和精密度均较高，结果令人满意。     

铁矿的X射线荧光光谱分析

采用无水四硼酸锂为溶剂,硝酸锂为氧化剂,经高温熔融制成的玻璃熔片,进行进口铁矿的主次元素含量测定。试验结果表明,分析结果经基体校正后与标样值比较,其准确度令人满意,与化学法相比,方法简便快速,精密度高,准确度好。     

波长色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁硅钙铝磷镁锰钛

采用四硼酸锂熔融—X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁、硅、钙、铝、磷、镁、锰和钛，以10个铁矿石标准物质建立校准曲线，用Lachance—Trail校正模式进行回归校正。方法准确、快速、简便。