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针对因模拟电路的故障模型复杂、有容差、非线性等导致的模拟电路故障特征提取难度大、严重依赖于专家的经验的现状,对基于小波分析的模拟电路最优故障特征提取技术进行了研究。以四运放电路为实验基础,采用Morlet和Haar两种小波基分别从不同的维度上做数据预处理,能量化、归一化后组成故障特征,而后通过克隆选择算法的诊断结果分析对比特征提取的效果。实验结果为通过两种小波基提取的故障特征在不同的情况下达到最高故障诊断率均接近89%,表明基于两种小波基的故障特征提取技术都是优秀可用的,以及单点采样数据的有效性;同时实验结果还反映了模拟电路故障特征的详细程度与诊断正确率成正比例关系。这对实际复杂模拟电路的故障特征提取具有指导性的意义。 相似文献
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目前在模拟电路故障诊断及测试过程中存在两个问题:测试信号的连续性及容差特性造成的测试信号数量巨大,故障知识表示复杂,测试程序(Test Program,简称TP)的编写多用基于决策知识的人工生成方法。通过对IEEE1232标准的体系结构和诊断推理机要求的分析,论文对IEEEE1232模型体系进行扩充,提出一种包含特征提取技术和多种AI诊断方法的诊断知识库生成协议,设计并实现了符合1232标准知识库的TPS自动生成测试系统。提高了诊断知识的移植性,实现了TPS的自动生成。仿真结果证明了该方案的可行性 相似文献
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