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成功率的序贯检验与检验后成功率的置信限 总被引:2,自引:0,他引:2
设{Xi,i1}是一独立同分布随机变量列,q=p(Xi=0)=1-P(Xi=1);其中q未知.设{An:1nn0}和{Rn:1nn0}是任二个数集,它们满足A1A2…An0,0<R1R2…Rno。,Ai<Ri(i=1,…,no-1)和Ano=Rno。对于假设HO:qq0(0<q0<1)我们考虑序贯检验△=(r,d),其中r=min{n:n1,DnAn或DnRn}:d=I(Dr≥Rr),这里Dn=.IA是集A的示性函数,“d=1”意味着拒绝H0,“d=0”意味着接受H0,在本文中基于数据(τ,Dr)我们找到了q的某种意义下的最优置性下(上)限. 相似文献
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对于成败型情形,基于成功次数给出了成功率的优良置信限和置信区间;对于产品寿命服从指数分布的情形,针对不同类型的数据(定数截尾、定时截尾、定总时与定数混合截尾、工型区间删失等)分别给出了可靠性参数(平均无故障时间(MTBF),可靠度,可靠寿命)的点估计和置信限。 相似文献
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对于产品寿命服从Weibull分布或对数正态分布的情形,针对几种不同类型的数据(例如随机截尾,定数截尾情形出现的数据),分别给出了可靠性参数(可靠度、可靠寿命)的点估计或置信下限。特别是在定时截尾出现零失效情形,给出了可靠性参数的置信下限的计算公式。 相似文献
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设(x1,t≥0)是概率空间(Ω,(?),Pθ)上的指数型随机过程,这里θ∈(-∞,∞),νt是测度.为了检验假设θ≤θ0(对立假设是θ>θ0),我们找出了一类截尾的序贯检验法,其第一类错误概率不超过给定的α且平均观测时间在α→0时是渐近最短的. 相似文献
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设X服从正态分布,均值θ和方差σ2都未知,给定实数θ0及α∈(0,1)。对于检验问题“零假设是θ≤θ0,对立假设是θ>θ0”,我们找出了一类功效是一的检验法,其第一类错误的概率不超过α,而平均样本量分别在θ↓θ0和α↓0时是渐近意义下最小的。 相似文献
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介绍了可靠性的基本概念、数据类型、寿命分布、参数估计,特别是用于计算置信限和置信区间的统计量方法和样本空间排序法。 相似文献
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可靠性增长试验中一类结构可靠度的统计分析 总被引:2,自引:0,他引:2
设X_(i1),X_(i2)……,X(in),是X_i的随机样本(i=1,2,…,m),且这些样本间是相互独立的,又设X_i~N(θ_i,δ_i~2)(θ_i与δ_i未知),且对某一常数c有P(X_1>c)≤P(X_2>c)≤…≤P(X_m>(?)基于上述样本,文中给出P(X_m>c)的点估计和在某种意义下最优的置信下限。 相似文献