新型含氟液晶—2 4—〔（4-正烷氧基—2，3，5，6—四氟苯基）乙炔基〕苯甲酸苯酚酯的合成和液晶行为研究

研究液晶性能与分子结构之间的关系具有十分重要的意义。本文以1—五氟苯基-2-三甲硅基乙炔为起始原料，合成了4—〔(4-正烷氧基—2，3，5，6—四氟苯基)乙炔基〕苯甲酸苯酚酯一类新型化合物。通过正交偏光显微镜观察研究。发现所得到的化合物是新型的单变向列型液晶。本文亦考察了端基对液晶行为的影响。     

新型含氟液晶-3，-（4’-正烷氧基—2，3，5，6—四氟联苯基—4—乙炔基）苯甲酸4—氯苯酚酯的合成和液晶行为研究

设计和合成新型含氟液晶化合物并对其性能进行考察，将有助于扩大人们对液晶及其器件应用等方两的科学理解。本文以1—五氟苯基—2—三甲硅基乙炔为起始原料，合成了4—(4’—正烷氧基—2，3，5，6—四氟联苯基—4—乙炔基)葶甲酸4—氯苯酚酯一类新型化合物。通过正交偏光显微镜观察研究，发现所得到的化合物是呈现高度稳定的近晶A相和向列相的新型互变液晶，分子结构对液晶行为的影响也在本文中得到考察。     

新型含氟液晶—4．苯环上侧向多氟取代对新型含氟液晶的性能的影响

液晶分子结构及几何构象对液晶性质具有很大的影响。本文介绍了4’—正烷氧基—2，3，5，6四氟联苯基—4—羧酸和4’—正烷氧基—2’，3’5’，6’—四氟联苯—4—羧酸的合成及其对位取代的苯酚酯等几类新型合物，通过正交偏光显微镜观察研究了它们的相变行为，初步的结果表明，在分子中引人全氟苯不利手液晶相的形成，而且全氟苯环在分子中所处的位置对液置液晶行为有很大影响，尤其是在联苯基中引入全氟苯环。     

(S)-(+)-Ipalbidine的全合成

本文报道以天然(s)-脯氨酸为原料,经过构型保持的十二步反应,合成(S)-(+)-ipalbi(dine,其氢溴酸盐呈光学活性,[a][25]D+54.1(c1,C2H5OH),在锂化性质上完全与从中国植物华佗豆(Ipomoea hardwickii Hemsl)分离出的光学活性ipalbidine(华佗豆甲碱)氢溴酸盐相同。     

新型含氟液晶-1 4—〔（4-正烷氧基—2，3，5，6—四氟苯基）乙炔基〕苯甲酸4—正戊氧羰基苯酚酯的合成和液晶性质研究

骨架结构中含有多氟原子的液晶，由于在改善熔点、粘度、双折射率及介电各向异性等物理性能方面具有明显的优点，而越来越受到人们的重视。本高文以1—五氟苯基—2—三甲硅基乙炔为起始原料，合成了4—〔(4—正烷氧基—2，3，5，6—四氟苯基)乙炔基〕苯甲酸4—正戊氧羰基苯酚酯一类新型化合物。通过正交偏光显微镜观察的研究结果表明，所得到的化合物是呈现近晶A相和向列相的新型液晶。端基对液晶行为的影响也在本文中得到讨论。     

铁电液晶与高分子铁电液晶

一、前言 近30年来,液晶研究在理论及应用技术方面都取得了惊人的成就,然而人们对它的关注还是有增无减。1991年诺贝尔物理奖授予法国材料理论科学家德·热纳,正是表彰他在液晶研究方面的卓越成就。长期以来扮演显示器件主角的阴极射线管正逐步为液晶     

Ipalbidine和Ipalbine的立体化学

1(ipalbidine)和2(ipalbine)是植物Ipomoea属中分离而得的两个生物碱,2具有光学活性.来源于南美洲同属植物alba L.的1为消旋体,而来源于中国同属植物华陀豆(I.hardwickii Hemsl)的1具有光学活性,其氢溴酸盐显示[α]_D~(25)十54.1°(c=1,C_2H_5OH).迄今,尚未有此二生物碱的绝对构型和优势环稠合构象的研究报道.     

偏振X射线荧光分析尾矿薄层样品的散射校正方法研究

了解尾矿浆中的重金属元素含量能为矿物浮选提供决策依据,不仅可以提高矿物的利用率,还可减少环境污染。X射线荧光光谱法是一种常用的重金属元素分析技术,对于地质类样品的分析,康普顿散射内标法是一种常用的定量方法。但对于薄层沉积样品,其康普顿散射峰强度会受到支撑滤膜的散射影响。由于样品紧密附着在支撑滤膜上,难以直接获得来自样品本身的康普顿散射强度,不利于直接应用康普顿散射峰强度进行定量分析。以尾矿薄层样品为分析对象,研究了不同聚丙烯滤膜厚度对康普顿散射峰强度的影响,并对薄层样品的康普顿散射强度进行了校正。实验结果表明,在0.34～3.06 mm厚度范围内,康普顿散射峰强度随聚丙烯滤膜厚度的增加线性增加,通过建立探测器获得的总康普顿散射强度与滤膜厚度的线性关系,计算出样品的净康普顿散射峰强度。为验证该修正方法的可靠性,利用蒙特卡洛方法模拟研究了无滤膜的尾矿样品和带有不同厚度滤膜的尾矿样品,结果显示经滤膜厚度影响修正后的净康普顿散射峰强度与无滤膜样品康普顿散射峰强度基本一致,相对偏差为0.41%。同时通过实验和模拟计算了0.34 mm厚聚丙烯滤膜时修正后的净康普顿散射峰强度占总康普顿散射峰的比例,分别为91.31%和89.91%,二者基本一致。最后,利用了上述基于滤膜厚度康普顿散射影响的校正方法,建立了基于康普顿散射内标法的定量校准曲线,对两种尾矿浆中的Cu,Zn和Pb元素的定量分析结果显示,未经滤膜厚度修正的康普顿内标校正相比校正前,部分元素定量结果与ICP-OES结果相比,其相对偏差反而增加3.18%～9.00%。而经滤膜厚度修正的康普顿内标方法的定量结果与ICP-OES结果的相对误差在1.14%～11.15%之间,相比于校正之前,相对偏差减少了0.30%～8.97%。