电感耦合等离子体原子发射光谱法中Kalman滤波法解析重叠谱线的研究

考察了Kalman滤波技术校正ICP-AES中谱线重叠干扰的潜力.以新息序列的平均平方和为评价函数优化扫描光谱的峰位,消除扫描过程中可能产生的波长定位误差,从而保证滤波结果的准确性,并使实际检出限显著改善.在中等分辨率光谱仪和扫描步长为1.5pm的条件下,滤波器能有效地分辨峰间距只有4.8pm且峰形基本相同的重叠线对.对峰间距为9.8pm的重叠线对,当线背比低至0.05左右时仍能获得满意结果.连续背景用理论描述,因而样品溶液和纯组分溶液的光谱扫描无需扣除溶剂空白.     

高纯氧化钇中镧、铈、钐、铝、铅和铜的电感耦合等离子体原子发射光谱法测定

本文以纯Y_2O_3中杂质元素的ICP-AES测定为例,研究用数值微分技术解决光谱干扰同题。结果表明,导数光谱法不仅可以有效地消除来自基体的光谱干扰,还能减小谱线干扰对检测能力的影响。当分析物浓度较低时,导数光谱法的加入回收率明显优于离峰分析法,多数情况下也优于在峰法校正光谱干扰时的回收率。     

发射光谱照相干板测光与微计算机的联机应用Ⅰ、微计算机控制半自动采样及其数据的自动处理

在过去近二十年中,关于发射光谱,或质谱照相干板测光自动化方面已经取得相当的进展。由于光谱干板信息量大,有人应用小型机,甚至中大型机对干板进行快速扫描,将大量光谱信息记录在磁盘或磁带上,然后进行脱机处理.也有人将原有测微光度计改装,应用小型机控制进行全自动测光及数据处理.近年来,有人曾用微处理机进行数据采样,但数据处理仍然应用大中型机.计算机与测微光度计联用,虽然国外已有商品出售,但是价格昂贵,且型号较少。目前,国内发射光谱或质谱照相干板的测光还多为手工,费时费力,且精度较差.为了解决测光问题,     

Kalman滤波法消除光谱连续背景的研究

本文研究了Ｋａｌｍａｎ滤波法消除光谱连续背景，以电感耦合等离子体原子发射光谱法测量氧化铽中Ｌａ，Ｅｒ，Ｇｄ，Ｄｙ，Ｄｕ和Ｔｍ为例研究了不同背景情况下的结果。用新息序列的平均平方和正交自相关系数超过出信度极限以外数为评价函数，可评价所估计的背景形状，是一种不用测背景，用计算方法消除光谱连续背景的好方法，本方法不仅适用于电感耦合等离子体原子发射光谱，对分光光度，原子等原则上都可适用。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用…

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铥中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎｉ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种大大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。     

Kalman滤波技术在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用

本文研究了Ｋａｌｍａｎ滤波技术在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用。以０．３２０ｍｇ／ｍｌ氧化铽中微克级镧，铕，钆，镝，铒和铥的测量为例具体叙述了方法，并提供实用计算机程序，为校正光谱干扰提出了一实用方法。该方法无需化学分离富集，直接分析光谱干扰严重的样品。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用 Ⅰ．测定高纯氧化铥中的14种稀土杂质

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铥中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种在大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用──Ⅱ．测定高纯氧化铕中的14种稀土杂质

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铕中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种在大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。     

Kalman滤波技术校正电感耦合等离子体原子发射光谱分析中严重重叠的谱线干扰

针对ICP-AES中严重重叠谱线干扰的校正, 研究了若干因素对Kalman滤波器性能的影响。减小扫描步长可以增强Kalman滤波法解析重叠谱线的能力。当重叠线轮廓基本相同且扫描窗口内干扰元素只有一条谱线时, Kalman滤波法能分辨的重叠线对的最小峰间距为扫描步长的2～3倍。扫描窗口内较多的干扰元素谱线和重叠线对轮廓的显著差异有利于Kalman滤波器正确识别分析信号和干扰信号, 可以利用这两个因素有效地分辨峰间距很小甚至完全重叠的谱线。