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铌铁合金中杂质元素的分析,在其含量低于百分之一时,可用电弧发射光谱法测定,但分析精密度较差。含量较高,则用化学法分别测定。然而,未见发射光谱资料。本方法利用ICP光源稳定性好、基体效应小、线性范围广等优点,结合发射光谱同时多元素测定的特长,对铌铁合金中W、Mn、Fe、Ti等四个杂质元素进行了同时测定。方法采用氢氟酸分解样品,酒石酸浸取,无基体标准液校准。可测含量范围为:钨2—20%,锰0.2—6%,铁4—40%,钛0.2—6%。相对标准偏差为±2—3%。 相似文献
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纯钨中杂质测定,国内外主要采用电弧发射光谱法,As的测定多以2349.84 A作分析线,测定下限约为0.001%,该谱线因受W2349.82A重迭干扰,故测定下限与准确度均难以满足工艺要求。ICP发射光谱对As、Sb、Pb等元素检 相似文献
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提出了粉末光谱法测定Al及Al_2O_3中九个杂质元素的方法。考察了Al_2O_3晶型、制备试样时高温的灼烧对分析结果的影响。加入选择的缓冲剂,提高了方法的稳定性和灵敏度。各个元素的测定下限在0.0001—0.001％之间。相对标准偏差在14％以下。本法的特 相似文献
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