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1.
在考虑B,P,As离子注入单晶硅中的浓度分布模型的基础上,讨论了快速热退火对3种注入离子浓度分布的影响,提出了3种离子在快速热退火后浓度分布的修正模型,由修正后的模型得到的多次离子注入模拟结果与实验结果符合很好。  相似文献   
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3.
讨论了β粒子验证相对论动量-能量关系实验中实验曲线比理论曲线偏低的原因,并对测β粒子能谱时低能部分本底和干扰计数的来源及扣除方法做了论述.修正之后,得到了较好的实验结果.  相似文献   
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6.
从基本半导体方程出发,用数值模拟方法得到了一种新型晶体管内部的电场分布,载流子浓度分布和输出特性.晶体管的有效基区宽度约为50nm.证明了这种晶体管有效基区中的电场是载流子输运的主要机制,它的输出特性与MOS场效应管的输出特性相似.这种晶体管有望用作数字电路中的高速器件.  相似文献   
7.
通过trim软件和高斯模型对离子注入后快速退火载流子分布进行设计,初步构造出离子注入的分布图像,通过与实验结果比较,进一步完善模型,选用高斯与半高斯混合模型,得到了与实验结果更吻合的模拟方案,从而找到了研制NPN型偶载场效应晶体管(VDCFET)离子注入的最佳条件,并研制了性能良好的VDCFET。  相似文献   
8.
为了精确消除零中频接收机中的直流偏移并快速响应射频接收机增益调整时引入的输入直流偏移变化,提出了一种混合型直流偏移消除电路.该电路结合了模拟型和数字型直流偏移消除技术的优势,在降低输出直流偏移的同时缩短了响应时间.模拟型直流偏移消除电路用于实时地自动消除各级输入的直流偏移,数字型直流偏移消除电路通过自动校准进一步减小接收机的最终输出直流偏移.同时提出了一种接收机增益自动校准电路,能够自动校准零中频接收机I/Q通路的增益失配.采用65 nm CMOS工艺实现了集成直流偏移消除的可编程增益放大器和增益自动校准电路.芯片测试结果表明,放大器最大输出直流偏移为2 mV,增益调整具有严格单调性,自动校准后的输出I/Q增益失配小于0.1 dB.该电路具有响应快、仅需开机自动校准和无需数字基带电路参与等优点,完全满足IEEE 802.11ax-2021等宽带通信接收机的系统要求.  相似文献   
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