中能电子成像仪探头的设计

利用小孔成像原理对中能电子成像仪探头的机械结构进行了设计,为保证探头单元暴露于外辐射带辐射环境12年的总剂量小于5 krad,确定其壳体厚度为约3 mm的铜,探头的角分辨率为20;根据带电粒子在硅中的能量损失规律对探测器进行了防质子污染设计,确定了探测器厚度为1000 m,其屏蔽层厚度为10 m等效硅。最后对设计探头的质子污染率进行了计算,结果表明该中能电子成像仪探头的设计满足外辐射带空间中能电子探测的需求,为中能电子成像仪的研制奠定了基础。     

用于空间科学研究的基于磁阻传感器的矢量磁强计

提出一种用于空间科学研究的基于低资源消耗各项异性磁阻传感器的矢量磁强计。该矢量磁强计的探测范围为±65000nT,–3dB带宽为DC～10Hz的磁场波,噪声功率谱密度≤0.2nT/Hz^1/2@1 Hz,非线性误差■,非正交性误差■。该磁强计搭载运行于太阳同步轨道的风云三号气象卫星(FY-3E),在轨初步探测结果表明,该磁强计具备探测空间磁场扰动(例如极光椭圆区的场向电流(20～60 nT))的能力。     

"资源一号"卫星星内高能粒子探测器

对空间辐射环境的效应以及“星内高能粒子探测器”原理和设计做了简要而全面地介绍，引用太阳活动宁静时期和一次剧烈的太阳扰动事件期间本仪器的观测数据显示了资料的质量和可用性。     

极轨卫星在780km高度上测得的高能粒子辐射事件

对搭载于我国第一颗地球资源卫星上的“星内高能粒子探测器”首批资料进行初步分析表明，在卫星780km轨道高度上所纪录到的所有高能粒子通量事件都只出现在3个地理区域，即两半球的高纬极光带和南大西洋地磁异常区。低能档电子在这3个区域都有出现，而高能档电子和质子在太阳宁静条件下，一般只出现在南大西洋异常区。从统计结果还可看出，南极光带附近的粒子通量大于北半球极光带。而在北极光带，与南大西洋异常区大体相同的经度附近，高能粒子的通量事件有一个明显的空隙区域。另一个观测事实是，0．5—2．0MeV能档的电子通量在极光区远大于2．0MeV以上能档的电子通量，而在南大西洋地磁异常区，两个通道的电子通量差别不大。与现有理论模型和国外大致相同轨道上的空间高能辐射环境直接观测资料对比还表明，卫星舱内的辐射与舱外的空间辐射环境是完全相关的。积累的有关资料不但是航天设计和环境应用研究所需的重要参量之一。也是空间物理基础研究特别是辐射带研究的重要数据。     

内部充放电监测器仿真及地面实验研究

为了实现对航天器内部充放电效应的有效监测,使用解析方法和有限元分析研究内部充放电监测器(DDCEM)内部电极层连接过孔的参数设计.结果表明,当过孔绝缘区半径与焊盘半径之比大于2时,可以忽略过孔对电子的泄露;最大电位和最大电场强度均位于电极层与过孔焊盘的绝缘区;当顶层电极输入电流达到最大量程时,DDCEM内部最大电场超过...     

木星轨道卫星深层介质充电电势仿真研究

采用GEANT4-RIC方法, 对处于木星轨道的星用电路板FR4 (环氧玻璃布层压板)介质和电缆PTFE (聚四氟乙烯)介质的充电过程进行模拟研究, 计算不同接地状态、不同介质厚度和不同屏蔽层厚度条件下, 介质内部的充电电势。研究结果表明, 介质充电电势与介质接地方式密切相关, 双面接地可以大大降低介质的充电电势; 使用薄介质以及增加屏蔽层厚度也是降低介质内部充电电势的有效方法。     

Thermal experiment of silicon PIN detector

The experiment of this paper is the thermal test of the leakage current of silicon PIN detector. Raising temperature may cause the detector to increase leakage current, decrease depletion and increase noise. Three samples are used in the experiment. One (called ΔE) is the sample of 100 μm in thickness. The other two (called E₁ and E₂) are stacks of five detectors of 1000 μm in thickness. All of them are 12 mm in diameter. The experiment has been done for 21 hours and with power on continuously. The samples have undergone more than 60℃ for about one hour. They are not degenerated when back to the room temperature. The depletion rate is temperature and bias voltage related. With the circuit of the experiment and temperature at 35℃, ΔE is still depleted while E₁ and E₂ are 94.9% and 99.7% depleted respectively. The noises of the samples can be derived from the values at room temperature and the thermal dependence of the leakage currents. With the addition of the noise of the pre-amplifier, the noises of E₁, E₂ and ΔE at 24℃ are 16.4, 16.3, and 10.5 keV (FWHM) respectively while at 35℃ are about 33.6, 33.1, and 20.6 keV (FWHM) respectively.