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在嵌入式设备的漏洞挖掘过程中,由于物理设备资源有限且运行环境封闭,导致由Fuzzing得到的异常无法得到及时确认和利用。以嵌入式固件为研究对象,提出一种基于污点跟踪的固件漏洞定位方法,该方法在仿真环境中进行动态分析,可以快速定位异常位置,判定异常原理,评估利用方法。基于该方法,在路由器、IP摄像头等多款嵌入式设备上进行实验,成功利用了ARM、MIPS架构下多个0day漏洞,对嵌入式设备漏洞挖掘有很好的参考价值。 相似文献
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