三基色计算全息图

介绍了三基色计算全息图的设计与制作，用白光光源照明该全息图，可以演示光的叠加，再现彩色图像并给出了理论分析和相应的实验结果。     

产生特殊聚焦图形的二元光学元件

通过面积编码将伽博（Gabor)波带片的透过率函数的余弦分布等效为二元分布，研制了能产生各种特殊聚焦图形的二元光学元件。根据透镜聚焦的物理原理制作的二元振幅型波带片可以方便地产生多种聚焦线，给出了相应的实验结果，并讨论了改善聚焦效果的优化条件。     

负折射率材料单球面近轴成像奇特规律的研究

研究了负折射率(n′<0)材料单球面折射对近轴光线的成像规律.理论推导证实负折射率材料单球面近轴成像的所有公式与我们所熟悉的常规材料(n′>0)单球面的完全相同,但由于n′<0,它的成像规律完全不同于常规材料的.文中通过物距-像距曲线比较了两种材料的物-像关系,并对(n′<0,f′>0,f>0)情形下的物像位置、虚实正倒、缩放规律等进行阐述,给出了物像空间的对应图示.     

一种产生多光束阵列的新型分束器

介绍一种产生多光束点阵的二元光学分束器。使用这种分束器时不需附加其它光学元件，便可直接产生会聚的多光束点阵。该元件是将有分束功能的Ｄａｍｍａｎｎ光栅和有透镜功能的Ｆｒｅｓｎｅｌ波带板集成，采用二元光学技术做成的位相型光学元件，具有衍射效率高、点阵清晰、光强分析均匀、相对误差小等优点。实验做出了９×９分束点阵，相对误差小于５％。     

负折射材料的非寻常折射

负折射材料是近年来研究人员关注的新型材料,与常规材料相比,它有许多非寻常的表现,特别是光的折射,用惠更斯原理解释了负折射材料的折射规律,并分析了负折射材料制作的一些常用光学元件与传统材料制作的相应光学元件的不同作用。     

正弦相位调制自混合干涉微位移测量精度分析

为了提高自混合干涉仪的位移测量精度,提出将正弦相位调制技术引入自混合干涉中。相位调制由置于自混合干涉仪外腔中的电光晶体实现,相位解调由傅里叶分析的方法得到。对位移测量过程中各种可能的误差来源如电光晶体调制不稳定性、光在外腔中的二次反馈效应等对测量精度的影响进行了模拟分析,从理论上得到了这种新的信号处理方法可以达到纳米级的测量精度。实验上,用高精度的商用压电陶瓷标定的结果验证了这种正弦相位调制自混合干涉仪在普通实验室噪声环境中可以达到纳米级的位移测量精度。     

用二元光学技术制作透射式Kinoform

相息图的最大优点是同轴、衍射效率比较高,理想情况下可以达到１００％,采用Ｇｅｒｃｈｂｅｒｇ－Ｓａｘｔｏｎ的失空算法,在物域和频域之间进行多次迭代,使频谱的振幅大致为常数,并对频谱的位相进行量化,用二元光学技术制叶阶透射式Ｋｉｎｆｏｒｍ,再现时获得了清晰的像,衍射效率较高。     

从高斯光束到帽顶光束Z扫描:分析测量灵敏度和可靠性

利用快速傅里叶变换方法分析了Z扫描归一化透过率曲线.研究了入射光束空间分布对Z扫描测量灵敏度和可靠性的影响.提出了截取高斯光束(即近帽顶光束)Z扫描表征技术,该技术不仅提高了测量灵敏度和可靠性,而且提高了光能量的利用率.