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根据实践经验,就网络机房管理中经常出现的问题,提出了相应的解决办法。同时,提出了利用新型保护软件进行系统备份与维护的方案,从而提高网络机房的管理效率。 相似文献
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为了研究季铵盐胶束是以胶束的形式抗菌还是以胶束解体后的单体形式与细胞膜结合达到抗菌效果,制备了一种季铵盐表面活性剂,该表面活性剂可以自组装成非交联胶束,还可以通过含有酯键的交联剂获得表面交联胶束.交联胶束在脂肪酶的作用下能解交联形成解交联胶束.利用核磁共振氢谱和动态光散射对合成的表面活性剂进行了分析,通过最低抑菌浓度和透射电子显微镜探讨了胶束的抗菌性能. 相似文献
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针对光学Y分支三维波导结构及折射率分布,运用有限差分波束传播方法(FD-BMP)进行了数值模拟,以数值结果可得,FD-BPM法算得的分支损耗为0.37dB,而原有的快速傅立叶变换法(FFT-BPM)算得的分支损耗为0.30dB,分析指出,FD-BMP的结果较为合理,对两种方法的计算时间比较发现,FD-BMP比FFT-BMP快5-7倍。 相似文献
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作图法处理数据实验结果的不确定度评定 总被引:1,自引:0,他引:1
利用不确定度概念,从理论上给出了利用作图法处理数据实验结果不确定度评定的规范化方法,通过实例论证了作图法处理数据不确定度评定的可行性,为采用作图法处理数据实验结果的不确定度评定提供了理论依据和可行的操作方法。 相似文献
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本文报道了对Y1-xRxBa2Cu3O7-δ(R=Eu、Gd)两个系列样品的超导电性研究结果.首先,发现随着Eu、Gd掺杂量x的增加,Y1-x]EuxBa2Cu3O7-δ和Y1-xGdxBa2Cu3O7-δ的晶胞体积均随之增大.但所有样品均保持与Y-123样品相同的单相正交结构;正电子平均寿命实验结果表明Cu—O链处局域电子密度ne随Eu、Gd掺杂浓度x的增加而减小.说明Eu、Gd对Y位的替代引起晶胞结构参量的变化不汉改变了Y位的电子密度.同时也影响了Cu-O链周围的电子密度分布;超导转变温度Tc随Eu、Gd掺杂浓度x增加而略有增加,反映了Eu、Gd掺杂虽然改变了体系的局域电子结构.但没有破坏超导所需的Cu-O链与CuO2面之间的耦合:Y位掺杂体系的超导电性与掺杂离子的磁性无关,而与掺杂离子的半径有关. 相似文献
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应用Green函数方法,计算氢在一组Ⅲ-Ⅴ族化合物的化学吸附能(ΔE)和衬底向吸附原子的电荷转移(Δq)。结果标明,ΔE与半导体的禁带宽度和表面指数密切相关。 相似文献
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Eu替代浓度对Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ体系电子结构和超导电性的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
利用正电子湮没和X-射线衍射技术,对Eu替代Y位的Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ(x=0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6,0.8,1.0)超导体系进行了系统研究,分析了体系的电子结构和正电子寿命参数的变化特征.给出了超导转变温度Tc与Eu替代浓度x之关联.结果表明:所有Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ样品均保持与YBa2Cu3O7-δ(Y-123)样品相同的单相正交结构;正电子平均寿命τm随Eu替代浓度x的增加而增加,反映了Eu替代Y位引起晶胞结构参量的变化不仅改变了Y位的电子密度,同时也影响了Cu-O链周围的电子密度分布及Cu-O面的层间耦合. 相似文献
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利用正电子湮没实验,结合x射线衍射(XRD)结构分析,研究了具有混合稀土特征的(Y1 -xGdx)Ba2Cu3O7-δ系列样品. XRD 实验结果表明,半径较大的Gd离子Y位替代使得样品晶胞参数和晶胞体积增大,但所有样品 仍保持与YBa2Cu3O7-δ(YBCO)样品相同的单相正交结 构. 正电子湮没实验表明,正电子各寿命参数表现出很强的Gd替代依赖关系. 从正电子实验 结果出发,计算了Cu-O链区局域电子密度ne的变化. 结果表明,局域电子密度n e随Gd含量x的增加而减小,而超导转变温度Tc随局域电子密度ne的减小而增加,这种局域电子密度ne与超导电性的关联是与铜位替代 完全不同的,且可能是近年来人们关于混合稀土铜氧化物体系具有较高临界电流密度的原因 之一. 该研究结果为铜氧化物超导体的应用和机理研究提供了相应的正电子实验资料.
关键词:
超导电性
正电子湮没
相结构
局域电子密度 相似文献