旋转式单针双截面束流扫描仪

采用三维环形旋转探针对离子束进行扫描，可以探测到２个束流截面的大小和位置；还可以由二截面参数的比较估算出附近的聚集梯度。该装置能够比较全面地反映束流的特性。     

用束-箔方法测量原子、分子激发态寿命

迄今,关于原子、分子和离子激发态寿命的资料。主要是从实验得到．原子、分子寿命的测量方法主要分为四类：延迟复合法;束－箔法;能级交叉法和相位移动法．一般地说。它们对技术的要求都很高。测量都较困难．在这方面。束－箔法显示出了它的独特优越性,它能将时间分辨转换成空间分辨,技术上易于实现。一、束－箔光谱方法束－箔光谱是六十年代以后发展起来的[１］,迄今已有几十种元素（从氢到铀）的原子、离子寿命用束－箔....     

MeV P^＋／Si^＋共注入SI—GaAs制备高品质n^＋埋层

采用不同注量和注入顺序的MeV能量的P~+(3MeV,1×10~(14)～3×10~(14)cm~(-2))与MeV能量的Si~+(3MeV,1×10~(14)cm~(-2))共注入于SI-LEC GaAs晶体中。对不同退火条件的共注入样品的有源层电特性、载流子浓度分布、晶格的损伤和恢复状况以及剩余缺陷等进行了分析。研究表明,较大注量的P~+与Si~+共注入,可以降低注区薄层电阻,有效地提高MeV Si~+的激活效率,改善有源层迁移率,得到高品质的n~+埋层。共注入样品的HALL迁移率大于2400cm~2/(V·s),激活率可达95％以上。     

MeV硅,氧离子注入SI—GaAs形成相互隔离的双导电层

用Mev的硅、氧离子注入SI-GaAs形成了相互隔离的N-SI-N双导电层结构.6 MeV的Si离子注入半绝缘的GaAs,在950℃5s条件下进行快速退火,可以得到最佳电特性,在表面下2.8μm深处形成n~+深埋层.采用双能量的硅离子注入半绝缘GaAs:6 MeV(1×10~(14)cm~(-2))+80 key(5×10~(13)cm~(-2)),在950℃5s退火,然后用1.2MeV的氧离子注入该样品,注量为10~(10)～10~(11)cm~(-2)时,形成了上、下相互隔离的双导电层,隔离击穿电压为10～20V,该结构在600℃以下是稳定的.     

Mev^28Si^＋注入GaAs的退火行为

报导 MeV 硅离子注入半绝缘 GaAs 的快退火行为,根据缺陷作用原理分析了硅的不均匀激活和载流子分布特征.指出应按载流子浓度、迁移率、埋层电阻和击穿等特性综合评价深埋层和近表面层的品质,优化注入和退火参数.     

离子注入白光退火技术和浅结工艺的研究

利用白光快速退火设备研究了白光退火特性,得到As通过siO_2注入Si制备0.1～0.15μm无缺陷浅结的最佳条件.发现As通过SiO_2注入的样品退火后其载流子浓度分布出现双峰现象,进而提出了分析这种现象的增强扩散模型.还发现B+As双注入的样品经瞬态退火后消除了减速场.     

铯溅射型负离子源中Cs~＋离子产额的实验研究

通过电离表面的痕量分析和Ｃｓ~＋离子产额的测量，研究了功函数、表面温度及铯通量等因素对铯溅射型负离子源表面电离效率的影响．结合Ｌａｎｇｍｕｉｒ－Ｓａｈａ表面电离理论，揭示Ｃｓ~＋离子产额饱和的原因．提出一项改进措施──透射型表面电离源，就其性能进行了讨论．