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XRF滤纸片法测定铁基样品中十种元素的方法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
本法在X荧光光谱仪上采用滤纸片法测定样品,避免了基体效应的影响,因而可适用于多种基体的样品,扩大了分析方法的适应性。 相似文献
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