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1.
稀土精矿中硅和铝的X射线荧光光谱法测定   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   
2.
本文采用熔融制样-X射线荧光光谱法测定钨精矿中的主次组分(WO_3、Fe_2O_3、MnO_2、CaO、SiO_2)。采用熔融制样,消除样品的颗粒效应与矿物效应;以D.Jongh数学模式对谱线干扰和基体效应进行校正,得到满意的工作曲线。结果表明方法重复性和再现性良好,相对标准偏差为0.154%~1.900%,样品的测定值与认定值基本一致,回收率为92.50%~106.00%。该方法能满足日常分析工作的要求。  相似文献   
3.
X射线荧光光谱法测定钐铕钆富集物中十种稀土元素   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了以菲利蒲PW-1404型X射线荧光光谱仪、粉末稀释法测定钐铕钆富集物中10种稀土元素的方法。该法快速、准确,能满足生产与科研的要求。  相似文献   
4.
介绍了以菲利蒲PW-1404型X射线荧光光谱仪、粉末稀释法测定钐铕钆富集物中10种稀土元素的方法,该法快速、准确、能满足生产与科研的要求。  相似文献   
5.
XRF/EDTA滴定法测定钐铕钆富集物样品稀土总量   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用X射线荧光光谱(XRF)法测定钐铕钆富集物的平均摩尔质量;用EDTA滴定法测定钐铕钆富集物中的稀土总量。方法的标准偏差为0.13%,相对标准偏差为0.14%,所得结果与重量法结果基本一致。  相似文献   
6.
XRF滤纸片法测定铁基样品中十种元素的方法研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
熊朝东  沈文馨 《江西科学》1997,15(3):189-192
本法在X荧光光谱仪上采用滤纸片法测定样品,避免了基体效应的影响,因而可适用于多种基体的样品,扩大了分析方法的适应性。  相似文献   
7.
沈文馨  潜学基 《江西科学》1998,16(2):114-117
介绍利用CrisXRF-11软件计算理论α系数,以校正基体效应的影响。应用该方法测定氧化镨富集物中La2O3,CeO2,Pr6O11,Nd2O3,Sm2O3,Eu2O3,Gd2O3,Tb4O7,Y2O3的含量,实验结果令人满意。  相似文献   
8.
XRF测定富铕混合稀土氧化物中铁,硅,铝,镁,钙,氯的含量   总被引:1,自引:1,他引:1  
沈文馨  熊朝东 《江西科学》1996,14(4):248-251
提出了一种减小基体效应的方法,使待测样品与标准样品的基体非常相似,该方法能同时测定富铕混合稀土氧化物中多种非稀土元素的含量,提高了分析速度。  相似文献   
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