磁光盘反射率测试仪的系统设计及研究

提出了自动快速测试磁光盘反射率的双通道测试方法，讨论了磁光盘反射率测试仪的误差来源，并通过磁光盘反射率仪进行优化设计，提高了磁光盘反射率测试仪的测试精度。     

红外热像仪测试系统的研制与精度验证

目前红外测试能力的建设主要依靠进1：2，设备价格昂贵、供货周期长、维修困难。自主研发的红外测试系统，采用T型离轴折返式平行光管减小杂散红外辐射的影响，采用多帧平均算法减小随机噪声的影响，采用黑体、靶标轮和平行光管的一体化结构设计减小环境温度对平行光管焦距变化的影响，提高了测试精度。红外测试系统软件采用通用化架构和模块化编程技术，扩展性好。该系统与某美国进口的红外测试系统对比，红外热像仪NETD测试结果的偏差小于20％。测试过程和测试配置可自动化，大大提高了批量测试效率。测试系统成本低，性能与国外同类产品相当，性价比高，具有广阔的市场前景。     

640×480非制冷红外探测器的测试

研制ULIS公司640×480非制冷探测器的非标SOIC管脚的无应力接口装置,解决了批量测试中非标SOIC管脚的精确连接问题,减少对被测探测器管脚的损坏.编制探测器工作所需要的偏压和时序,保证探测器正常工作.采用LAKESHORE温度控制器,保证非制冷红外探测器焦平面工作温度的精度控制在8mK以内.采用MATLAB编制...     

大面阵非制冷红外热像仪的噪声等效温差精度分析

分析了采用脉冲偏置电压读出电路的大面阵(320×240)凝视型非制冷焦平面的原理。根据处于脉冲偏置的红外热像仪噪声等效温差的表达式,分析了影响噪声等效温差的几个因素。数值计算表明:脉冲偏置时非制冷焦平面温度升高带来的误差,是影响热像仪噪声等效温差精度的主要因素。     

磁光盘反射率测试仪的系统设计及研究

提出了自动快速测试磁光盘反射率的双通道测试方法,讨论了磁光盘反射率测试仪的误差来源,并通过磁光盘反射率测试仪进行优化设计,提高了磁光盘反射率测试仪的测试精度．     

320＊240凝视型非致冷红外热像仪研究

提出了基于微测热辐射计的３２０＊２４０凝晨致冷红外热像仪的系统设计方法,指出了设计３２０＊２４０凝视型非致冷红外热像仪的关键,为研制出国内第一台３２０＊２４０凝视型非致冷红外热像仪打出了基础。     

磁光盘光学头物理道定位的研究

对磁光盘的接口标准ＳＣＳＩ－Ⅱ进行了分析的基础上，提出了ＤＯＳ中断４Ｂ和４Ｆ来进行磁光盘驱动器中光学头的逻辑道定 时，在分析５Ｘ密度磁光盘标准ＩＯ／ＩＥＣＤＩＳ１５０４１：１９９６（Ｅ）的基础上，提出了逻辑道和物理道的对应关系，这为磁光盘的跨道信号，推挽信号和预制信号的测试奠定了基础。     

磁光盘光学头物理道定位的研究

对磁光盘的接口标准SCSI进行了分析的基础上,提出了用DOS中断4B和4F来进行磁光盘驱动器中光学头的逻辑道定位.同时,在分析5X密度磁光盘标准ISOIECDIS15041:1996(E)的基础上,提出了逻辑道和物理道的对应关系.这为磁光盘的跨道信号、推挽信号和预制信号的测试奠定了基础     

凝视型非制冷红外热像仪的优化设计

概述了凝视型非制冷热像仪作用距离估算的几种模型及其特点.采用NVTherm分析了320×240凝视型非制冷热像仪的调制传递函数、最小可分辨温差和探测距离.分析结果表小F/#、减小像元间距都能够改善凝视型非制冷热像仪的性能,增加作用距离.外场试验结果与NVTherm的仿真值符合得比较好,表明可以利用NVTherm对凝视型非制冷红外热像仪的设计过程进行优化,并能缩短设计周期.     

320×240凝视型非致冷红外热像仪研究

提出了基于微测热辐射计的320×240凝视型非致冷红外热像仪的系统设计方法,指出了设计320×240凝视型非致冷红外热像仪的关键,为研制出国内第一台320×240凝视型非致冷红外热像仪打下了基础.