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利用原子力显微镜(AFM)对壳聚糖吸附银离子进行研究，从形貌学的角度探测壳聚糖络合银离子的机理特性．主要方法是将溶液滴加在新解离的云母片上，应用原子力显微镜对自然风干后的样品在非接触模式下成像．AFM图像显示：壳聚糖分子和加过金属银离子的壳聚糖分子在聚集生长过程呈现为传统的具有分形特征的正态分布和奇异分布；由单一的壳聚糖分子形成的分形结构为“星”形结构，而加过银离子的壳聚糖分子形成的结构为“圆”形．产生这些图形差别的根本原因是由于生长界面的表面张力及其各向异性起了重要作用．这两种结构都具有典型的自相似性，且实验结果与计算机模拟的分形模式拟合得很好． 相似文献
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应用缓冲层对自组装结构的作用能Er和自组装结构表面能E8 的协同作用分析了InP自组装结构在GaxIn1-xP缓冲层表面的形貌变化.计算发现缓冲层组分影响自组装结构的形貌.随着缓冲层与InP自组装结构之间应力的增加,InP岛倾向于拉长.理论计算还发现随着自组装结构体积的增大,自组装结构也随之拉长.而且缓冲层的参数决定了自组装结构最小能量状态时的体积大小.应用金属有机物化学气相沉积技术在GaAs衬底上生长了不同的InP/GaInP体系,并对实验得到的自组装体系形貌进行了分析.实验结果证实了以上的理论分析. 相似文献
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应用缓冲层对自组装结构的作用能Er和自组装结构表面能Es的协同作用分析了InP自组装结构在GaxIn1-xP缓冲层表面的形貌变化，计算发现缓冲层组分影响自组装结构的形貌，随着缓冲层与InP自组装结构之间应力的增加，InP岛倾向于拉长，理论计算还发现随着自组装结构体积的增大，自组装结构也随之拉长，而且缓冲层的参数决定了自组装结构最小能量状态时的体积大小，应用金属有机物化学气相沉积技术在GaAs衬底上生长了不同的InP／GaInP体系，并对实验得到的自组装体系形貌进行了分析，实验结果证实了以上的理论分析。 相似文献
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用AFM对质粒DNA在云母表面的自组装研究 总被引：1，自引：0，他引：1
通过原子力显微镜(AFM)对在云母表面上自然挥干的不同质量浓度的质粒DNA分子进行扫描，原子力显微镜图像显示：当质量浓度为0．1μg／mL时，DNA分子呈现出线性结构，随着质量浓度加大至1μg／mL，DNA分子相互缠绕为网状结构，质量浓度为10μg/mL时，呈现出具有典型的聚合形态，当质量浓度进一步加大到100μg／mL，则呈现出明显的树状脉络结构．通过原子力显微镜对质粒DNA分子的形态表征，可以看出质粒DNA分子具有典型的自组装的特性． 相似文献
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