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相控阵技术是一种通过电子激发的时间不同而改变探头性质的多声束扫描技术。探头性质改变是通过相控阵探头单个晶片在脉冲发射和接收信号时引入时问变换来完成的,从而实现聚焦点和声束方向的变化,然后采用机械扫描和电子扫描相结合的方式实现图像成像。相控阵探头舍有多个性质相同的晶片,可以控制聚焦深度,偏转角度和波束宽度。和常规的超声波探头比较,它的灵敏度和分辨力高,有效探伤深度范围大,探测结果准确,高效。采用相控阵C扫的模式可以在开罐情况下下,实现储罐的内部检验。对于内部孔蚀性缺陷,检验效果更加明显。 相似文献
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