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本文进一步讨论离子注入聚合物具有巨大的介质松弛损耗的形成机理和理论公式.作者首先评论了离子注入聚合物可能形成的损耗机理,在否定现有损耗模型的基础上,根椐霍尔效应对导电载流子的鉴别、介质损耗松弛时间温度关系与电导温度关系的一致性,以及隧道效应作用下,电子运劝具有一定速度的概念.推断介质损耗的形成在于隧道效应作用下,导电粒子之间电子的迁移.按照电子迁移形成极化性概念,考虑到电场作用下电子隧道穿透率的差异,建立极化强度的静态和动态方程,导出离子注入聚合物介质松弛损耗的公式。理论分析得到了实验结果的验证. 相似文献
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聚合物的空间电荷效应与电击穿机理 总被引:2,自引:0,他引:2
本文采用电声脉冲法,实测了聚乙烯试样中空间电荷分布,在特制的试样上,显示了均匀电场中空间电荷在直流击穿和短路击穿中的极性效应.空间电荷效应、交直流叠加和升压速度的实验结果表明,均匀电场中聚乙烯的击穿规律与极不均匀电场中树枝化的特性是一致的,进一步证明了 Budenstein 的实验发现,即均匀电场中聚合物的击穿起始于界面的树枝化.最后,作者用高氏树枝化新理论,对击穿现象作出了满意的解释. 相似文献
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导电的PPS(聚对苯硫醚)的电导稳定性至今未得到解决,其根本原因是掺杂剂与PPS分子之间不能形成或不能永久形成电荷传递结合物。本文以不形成电荷传递结合物的掺杂剂碘(I)作为研究对象,在化学掺杂之后进行了等离子体处理,使PPT的电导率和稳定性大幅度提高,达到强掺杂剂的程度。红外吸收和二次离子质谱分析表明,经低温等离子体处理后,I和PPS之间形成(C_3 H_2S)~+和(HCIS)~+ 基团,电导的活化能从原始的2.0eV降低到0.2V,电导的机理是载流的热活化过程。 相似文献
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用陷阱参数作为聚合物电老化特性参数的试验研究 总被引:2,自引:2,他引:2
本文以高分子聚丙烯薄膜材料为试样,在真空与均匀电场中进行加速电老化试验。试验结果表明,试样的老化场强与老化时间呈指数关系。在电老化过程中,用红外光谱分析了试样的内在化学结构变化,用电子顺磁共振测量了老化生成的自由基,用光电导谱和表面电位的测量技术测量了陷阱深度与陷阱密度的变化。试样在电老化过程中,短分子链随时间而增加,陷阱的深度与密度也随时间而增长,都与电老化寿命的经验公式有类似的形式。通过讨论电老化的化学过程,提出陷阱参数可以作为表征材料电老化特性的新参数。本文的结论将为建立新的电老化理论提供了试验依据,并为非损伤性电老化试验创造了前景。 相似文献
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传统的局部放电平衡测量法以电阻电容为输入电路,存在许多缺点,难以在高压和超高压领域推广使用。文中以电感电容为输入电路,全面分析了调谐平衡法局部放电的测试原理。模拟实验的结果表明,在选定的测量中心频率下,在调谐电容的调节范围内,存在着无数组平衡点,试样与参考电容器的电容量可相差100倍,干扰抑制比可高达2000 ̄4000。在实际的高压测试回路中的测量结果表明,在试样比为1 ̄1000范围内,对应的干扰 相似文献
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高抗干扰局部放电测试仪脉冲鉴别系统在局部放电测量中的应用 总被引:1,自引:1,他引:0
我们根据国内的具体情况研制了一种高抗干扰的局部放电测试仪。本文详细介绍该测试仪的电路原理和结构。实验证明,采用本仪器,在电气干扰的环境中,可以测量高压电气设备绝缘的局部放电。与传统的测量方法相比,特点是:在测量回路中其它部分同时发生局部放电时,不影响试品局部放电的观测;试样制作简单,操作方便,可大大降低试验设备的费用;还能够区分局部放电发生在哪一个试品之中。 相似文献
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本文以含水的非极性、弱极性有机电介质为对象,全面地研究了吸取水所导致的松弛损耗。在测定其介质损耗角正切-频率曲线的同时,还研究了损耗松弛时间与温度的关系。提出了判断瓦格纳损耗和偶极损耗的新方法。 相似文献
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含叠氮硝胺的低特征信号推进剂的热分解研究 总被引:1,自引:0,他引:1
应用高压DSC(差示扫描量热法)、TG(热重法)和DTG(差示热重法)了DATH(1,7-二叠氮-2,4,6-三硝基氮杂庚烷)、RDX(黑索金)单组分以脑RDX-CMDB(复合改性双基推进剂)和CDATH-RDX-CMDB推进剂样品的热分解,温度达200℃时,首先暗DATH中3个-NO2从主链上断裂分解,接着是一N3和其他残余分子在较短的时间剧烈地分解并释放出大量的热,在多组分体系中,DATH与( 相似文献
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陷阱理论在聚丙烯电老化试验中的证实 总被引:1,自引:0,他引:1
以聚丙烯薄膜为试样,在真空中进行了工频电老化试验,在电老化过程中,同时测量试样的剩余击穿场强和表面电位增量,并在不同电压下测量了寿命时间,实验发现在广泛的电压范围内,在双对数坐标上,试样的的寿命曲线,剩余击穿场和表面电位增量都是折线,且具有相关性,证实了陷阱在介质击穿过程中的决定性作用和寿命的理论公式中幂指数随电场强度范围的不同而变化的理论预言。不管电老化电压如何,试样的击穿都发生在陷阱密度,自由 相似文献