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本报道了利用作研制的一种新的光学元件-单频散斑光栅模进行面内位移场测量的方法及原理。 相似文献
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云纹栅的栅线倍增和云纹倍增 总被引:1,自引:0,他引:1
一、引言近年来采用光学空间滤波技术使云纹栅的栅线倍增和云纹倍增(云纹倍增又有分离栅和叠合栅两种方法)。在文献[1]、[2]、[3]、中已见报导,文献[3]还对此作了进一步发展并向实用化前进了一步,使云纹倍增率达13。这些文献多数是对栅线倍增和 相似文献
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光源编码的白光散斑剪切干涉计量术 总被引:3,自引:1,他引:2
本文提出了一种用非相干光源照明进行剪切干涉计量的方法—光源编码的白光散斑剪切干涉计量术.它采用光栅对光源进行编码以提高空间相干性,使物体的两个剪切像的波面部分相干叠加,以实现剪切干涉. 相似文献
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部分相干像面散斑技术 总被引:2,自引:0,他引:2
本文以光的部分相干性理论为指导,讨论了部分相干像面散斑(通常称为白光散斑)技术的关键.其结果可与激光像面散斑媲美. 相似文献
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提出了一种新的剪切散斑干涉方法─—二次波面干涉的剪切散斑干涉计量术.这一方法将被测物体变形前后波面的第一次干涉信息分别储存在两张全息干板上,通过光学信息处理实现波面的第二次干涉.两次波面干涉分别消除了位移和位移的一阶导数场对波面位相的影响,得到仅反映位移二阶导数场的条纹图. 相似文献
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斜光轴面内位移测量的数字散斑相关法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
以工程环境中远距离位移和位移场的光学测量为研究课题,分析了远距离斜光轴成像时,像模糊和成像位置变化对白光数字散斑相关方法产生的影响,给出了这两种影响的误差理论计算公式。提出使用参考测量技术克服斜光轴成像位置变化带来影响,给出一种新的远距离斜光轴高精度测量面内位移的方法,在2~50m处作静载挠度测量,其最大相对误差小于1%,测量精度在实验室环境和工程测量环境中都得到了验证。该方法无需共轴光路的测量环境要求,特别适用于桥梁、高速公路立交桥的静载挠度测量等工程应用。使用高速图像采集卡,该方法可应用于斜光轴动态位移测量,拓展了数字散斑相关方法的应用范围。 相似文献
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一、引言散斑照相法已广泛地应用于实验应力分析,尤其是多孔径法[1~4]、园环孔径[5]和十字缝孔径[6]、[7]的应用,使干涉条纹的质量和对比度都有所改善。本文提出的方环孔径法是紧靠照相机物镜前放如图一所示的方环进行散焦散斑照相。对方环孔径的衍射晕和散斑颗粒大小的实验和理论研究,表明该方法具有如下优点:1、衍射晕 相似文献
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建立了关于分销渠道的层级、信息处理成本以及最终消费价格关系的简单模型。分析结果表明,TPL(第三方物流)在网络支持下利用信息流整合物流具有较大的利润潜力可挖,其中TPL在信息处理方面的专业化优势以及相应减少的分销渠道层级这两个方面是挖掘潜在利润的主要源泉。还简要地分析了物流整合后的利润在参与各方的几种基本分配模式。 相似文献