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1.
GaAs表面经UV/O_3处理后的XPS分析
杨伟毅
王广林
高频
夏长虹
邓金祥
《南京理工大学学报(自然科学版)》
1992,(3)
UV/O_3是去除半导体表面碳氢化合物的有效方法之一。该文利用X光电子能谱仪讨论了GaAs经UV/O_3处理的表面化学状态,得知表面氧化物为Ga_2O_3、As_2O_3及As_2O_5,且其氧化层厚度,当用UV/O_3处理30 min后大约为9 nm。
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