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基于傅立叶变换轮廓术的物面相位提取 总被引:1,自引:0,他引:1
采用傅立叶变换轮廓术,针对基频提取的关键技术采用逐行傅立叶变换,准确提取基频信息的方法恢复相位信息.在此基础上,以未畸变条纹为基准,得出被测物体的真实位相值.该方法只需一幅条纹图,节约了测量时间.实验证明可实现无接触面型的自动传感. 相似文献
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提出一种具有深度值的莫尔轮廓图。将一称为高标的正圆锥与被测物一起置于粗光栅之后 ,平行光照明 ,远场拍照。在所拍图片上高标的高度值 (已知 )除以高标上的等高线数即可求得相邻等高线的深度值 ,进而直接在莫尔轮廓图上读出任一点到基准点的深度差值 相似文献
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针对塑封高压硅堆反向特性差的问题,采用“显微剖析”技术和“紫外荧光无损检测”(UVF)技术,对样管的内部结构及原材料进行测试分析,并与进口样管内部结构进行比较,找出了国产样管不足之处,提出了改进方案。 相似文献
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介绍爬行式弧焊机器人三维视觉信息的传感原理。研究了拉普拉斯锐化、细化等措施对图像处理的效果。给出型坡口多层多道焊边缘坐标的确定以及纠偏量和深度值的计算方法,实验说明效果较好。 相似文献
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为排除强背景光,分析说明了背景光和投影栅条纹的在空域和频域的分布特点,提出了空间滤波器的设计方案,并通过计算机模拟证明:以布莱克曼函数作边缘分布的带通滤波器,能有效地抑制"吉布斯效应",从而排除强背景光,提取清晰的光栅条纹. 相似文献
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稀土Nd,Ce掺杂硅基薄膜光致发光特性 总被引:1,自引:1,他引:0
测量了Nd,Ce稀土离了注入Si基晶片,在不同离子注入剂量、不同退火条件下的室温光致发光(PL)谱,结果表明它们均具有蓝、紫发光峰,且发光稳定。在一定范围内发光效率随掺杂浓度的增加而增大,随退火条件的不同而改变。运用原子力显微镜(AFM)对样品的表面形貌进行了观察,结果显示,样品表面颗粒大小、粗糙度将影响其发光效率。表面颗粒大小均匀,均方根粗糙度小的样品发光效率较高。通过对样品的卢瑟福背散射(RBS)能谱测量,对样品的表面结构进行了探讨,并讨论了表面结构与光致发光特性之间的联系。对样品的发光机理作了初步探讨。 相似文献