群桩压入挤土效应的解析计算及试验对比

采用孔扩张理论对静压桩挤土效应进行模拟计算,假定地基土符合修正剑桥模型,推导得出单桩压入过程中土体位移和孔隙水压力的解析表达式。以此为基础,通过叠加得到群桩压入过程中桩周土体挤土效应的理论解答。同时,在杭州地区进行了群桩静力压入的现场试验,发现桩周土体的水平位移随离排桩的距离呈指数衰减。解析计算值与试验结果较接近,证明了该模拟计算方法的有效性。     

试论公路施工项目中的质量管理

质量已成为施工企业发展的生存先决条件。本文就影响施工质量的因素、有关措施加以论述,以便企业发挥全面的优势,向质量管理科学化、合理化方向发展。     

上海通用东岳汽车有限公司污水处理站通风改造方案探讨

本文介绍上海通用东岳汽车有限公司污水处理站通风系统存在的弊病,根据工艺设备情况对通风系统提出改造方案,并对方案进行比较,最终确定优选方案,经实际运行监测,增加局部排风罩的方式可以取得良好的室内空气环境。     

电磁干扰对场桥PLC的影响及抗干扰措施

本文对电磁干扰及其对PLC控制系统干扰的原理进行分析,指出在PLC应用时必须综合考虑的抗干扰性能及影响,并结合港机场桥电控PLC应用提出相应抗干扰措施。     

浅谈我国网络教育教学存在的问题与对策

随着多媒体技术与网络技术的广泛应用,网络教育正在迅速发展。本文分析了我国网络教育目前面临的主要问题,并提出了对策。     

基于黏着—犁沟摩擦理论的黏性土与混凝土界面受力试验与分析

为揭示黏性土与混凝土界面细观受力原理,引入摩擦学细观摩擦理论。根据黏性土与混凝土界面反向剪切试验、黏性土与多规格混凝土齿板界面直剪试验证明黏着—犁沟摩擦理论应用于黏性土—混凝土界面的正确性,该理论在细观级别的解释优于库仑强度理论,合理的解释黏性土与混凝土界面摩阻力的组成。基于黏着—犁沟摩擦理论的黏性土与混凝土界面的实际接触面积与法向力呈线性关系。黏着—犁沟理论结合GW随机表面模型将宏观界面受力分解到细观颗粒级别,为桩土界面的颗粒级研究打下基础。     

断层岩岩体承载力和变形特性研究

对断层岩工程地质性质的深入研究、进行正确的工程地质评价具有十分重要的现实意义和经济价值。以青岛环球金融中心为例,结合详细勘察资料,查明基底的岩性分布及物理力学性质,为地基基础设计提供相关参数,提出合理的基础设计方案建议。通过平板载荷试验实测了工程中断层泥、糜棱岩、碎裂岩的承载力及变形指标,可知基底处岩性复杂,承载力及变形模量差异较大,建议采用筏板基础,以碎裂岩及碎裂岩分布区作为天然地基基础持力层。     

基于光纤光栅传感技术的敞口混凝土管桩应力测试现场试验

基于4根足尺敞口混凝土管桩现场试验,在桩身刻槽预埋串联式的光纤光栅(FBG)传感器,成功地将准分布式FBG传感技术应用在贯入过程中桩身轴力的测试,研究了敞口混凝土管桩稳态贯入过程中桩端阻力和桩侧摩阻力的变化规律。试验表明:FBG传感技术能够准确分离桩端阻力和桩侧摩阻力,测试效果较为理想。桩端阻力和桩侧总摩阻力沿深度变化曲线反映土层的工程性质,桩端阻力受土层变化影响明显,硬质土层界面处桩端阻力平均增幅78. 5%;桩侧摩阻力进入圆砾层时出现峰值,平均增长幅度为20. 2%。桩端位于非硬质土层,桩端阻力、桩侧摩阻力变化不明显。贯入过程中桩身轴力变化曲线表明桩身下部侧摩阻力明显大于上部侧摩阻力。     

Ar+能量及低能轰击对离子溅射铜钨薄膜结构的影响

研究了双离子束溅射制备铜钨薄膜时Ar^ 能量及低能辅助轰击对膜结构的影响。实验结果表明，以铜为衬底，铜靶Ar^ 能量在1-2keV、钨靶Ar^ 能量在3keV左右时，离子溅射铜钨薄膜是以钨的非晶态为骨架机械夹杂着铜晶粒的方式存在。铜晶粒度随铜靶Ar^ 能量增加略有增大。当Ar^ 能量高到临界值(约为1．5keV)时，少量铜转变成单晶态和熔进钨形成固溶体。受晶体缺陷及晶格畸变影响，铜衍射峰会发生微小偏移。     

基于双音外差的电光相位调制器半波电压自校准测量方法

电光相位调制器是光纤通信系统、微波光子系统和相干光通信系统中的关键器件之一. 作为器件本征参数, 电光相位调制器的半波电压通常利用光谱方法和电谱方法进行测量. 光谱方法受到光源线宽和光谱仪分辨率限制, 测量的分辨率较低; 电谱方法则需要光电检测之前将相位调制转换成强度调制, 电谱方法的主要困难在于需要对探测器的不平坦响应进行额外校准. 提出了利用双音外差实现电光相位调制器半波电压自校准测量新方法, 该方法利用双音电光相位调制的边带与移频光载波的外差拍频, 对外差拍频信号进行频谱分析, 获得电光相位调制器的半波电压; 通过设定双音调制信号的频率关系, 克服了探测器光电转换中的不平坦频率响应, 实现了自校准测量. 该方法可扩展探测器和频谱仪的测试频率两倍以上, 节省至少一半的带宽需求. 与光谱测量方法相比, 该方法测试分辨率大幅提高且避免了光源线宽的影响; 与传统电域测量方法相比, 该方法无须额外校准, 无驱动功率和工作波长限制, 且对测试仪器带宽需求降低一半以上. 实验证实了所提方法获得的电光相位调制器半波电压的测量结果与光谱分析法获得的结果一致, 且大幅度地提高了测量范围和分辨率. 该方法提供了非常简单的电光相位调制器微波特性化分析方法, 对其他光电子器件分析也提供了参考.