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微结构的表面形貌会显著地影响微纳器件的使用性能及产品质量,是微纳测试领域的一个重要研究方面,利用白光干涉技术是测量物体表面形貌的一种常见方法。区别于常用的CCD黑白相机,使用CCD彩色相机采集白光干涉条纹的彩色图像,使获取的图像包含了R、G、B三个通道的信息。利用小波变换法分别求解出在不同扫描位置处R、G、B通道的相位信息,通过建立的评价函数,并结合最小二乘法可精确确定零光程差的位置,利用相对高度和零光程差位置的线性关系,进而得到物体的表面形貌。通过仿真以及实际测量由VLSI标准公司制造的标准台阶结构,验证了所提出方法的有效性。 相似文献
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基于隧道效应的振动检测反馈系统设计 总被引:1,自引:0,他引:1
针对扫描隧道效应对环境的苛刻要求,旨在设计一种主动隔振系统提高STM工作的稳定性,主要基于隧道效应的原理搭建闭环控制系统,主动适时的响应和补偿振动的干扰.硬件部分包括以DSP为核心的高速精确的测控电路,软件部分解决了数字滤波和PI控制算法在提高控制性能上的关键问题.并利用仿真现象和实验结果进行控制特性和动态响应的分析,证明其良好的实时控制效果. 相似文献
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利用扫描探针显微镜(SPM)进行电场诱导氧化加工的方法可应用于半导体微型器件和纳米电子器件的加工制作,文中研究了原子力显微镜(AFM)电场诱导氧化理论以及一些加工参数(偏置电压和加工速度)对加工结构尺寸的影响,并提出了阈值电压的概念,通过实验得出了偏压越大,加工线尺寸越大的结论,并指出随着加工速度的增大,加工线宽和线高都减小,且加工线高度和加工速度近似呈负对数关系,实验是在H钝化的Si表面上进行的。 相似文献
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在对扫描隧道显微镜模式的研究的基础上,首次提出“符合扫描”模式,不但从理论上消除了原有扫描模式带来的测量误差,而且还使测量速度提高了70%,这种模式可以应用于几乎所有扫描探针显微镜仪器的Z轴反馈控制,对原子量级信息读取速度和精度的提高具有重要意义。 相似文献
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利用超声波检测流量的高精度系统 总被引:3,自引:0,他引:3
讨论了超声波在流体内传播过程中流速补偿问题,建立了流量测量的数学模型,并给出测量系统的结构框图。针对超声检测流量中的流场分布情况,采用高电压窄脉冲信号触发超声波发射电路、高频振荡计数与相敏检波相结合的高精度在线检测方法提高测量的精度,并利用系统内存储的测量环境数据和实际测量时的温度对测量结果进行补偿,保证测量的稳定性;分析了测量误差来源以及消除误差的方法。 相似文献
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模糊控制在大载荷高精度液压控制系统中的应用 总被引:5,自引:0,他引:5
在全尺寸采油工具综合参数检测与试验系统中,需要在全量程内对大载荷变化的液压系统进行高精度控制,常规的控制方式容易导致很大的控制偏差甚至超限.利用模糊理论,研制了适用于液压控制的模糊控制算法.在大庆油田两年多的实际应用证明,这种算法有效地避免了应用常规算法容易引起的控制量的振荡和过冲,提高了载荷施加的精度,在0~1000kN量程范围内,载荷的最大偏差为1kN,全量程控制精度优于0.2%.进而提高了井下采油工具检验和采油工艺试验研究数据的准确性和可信度,使该系统成为有实际应用价值的检验与试验研究系统。 相似文献
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MEMS三维微触觉测头的低频振动测试系统 总被引:1,自引:0,他引:1
针对一种MEMS三维微触觉测头,构建了基于Suss Microtec三维微定位器和PI压电陶瓷的动态测试装置,对测头的动态性能进行了表征.分别测试了测头在轴向和横向负载下对不同幅度低频振动信号的响应情况,研究了测量过程的短时重复性能.结果表明,压电陶瓷位移。电压曲线的非线性误差在轴向测量模式下小于0.102%,横向测量模式下小于0.507% 相似文献
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基于相关拟合校准技术的MEMS平面微运动纳米精度测量 总被引:2,自引:0,他引:2
微电子机械系统(MEMS)谐振器周期运动过程中各个时刻的运动特性及其动态特性参数为MEMS器件的设计提供重要参考.提出一种基于相位相关技术的亚像素运动估计算法,可对相关拟合方法进行误差校准补偿,从而提高对物体运动的分辨力,实现纳米精度测量.利用该算法对MEMS器件的运动历程做分析,得到特定驱动频率下MEMS器件的幅度一相位曲线.利用扫频测量原理,获得了MEMS器件的幅频特性.实验结果表明,该方法具有较好的测量精度,测量分辨力优于5nm. 相似文献
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集成聚焦式测头的纳米测量机用于台阶高度标准的评价 总被引:1,自引:0,他引:1
利用集成聚焦式测头的纳米测量机实现了高精度的台阶高度标准评价,该系统的测量范围可以达到25mm×25mm×5mm.描述了纳米测量机的工作原理,通过内嵌激光干涉仪和角度传感器的实时测量与反馈,实现高精度定位与扫描.聚焦式测头只作为零点传感器,与3个激光轴交于一点,避免了阿贝误差影响.通过将聚焦式测头的输出信号引入到纳米测量机的数字信号控制器中,实现定位系统的辅助测量,减小了聚焦式测头的非线性对测量结果的影响.根据ISO 5436-1:2000的评价方法对经过标定的台阶高度进行评价,14次测量的均方根(RMS)偏差为0.237nm. 相似文献
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